KCT膜厚儀膜厚儀，涂層測試儀，國產(chǎn)涂層測試儀，代理膜厚儀，膜厚儀價(jià)格
KCT-1測厚儀
產(chǎn)品簡介
本儀器采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）本儀器具有測量誤差小、性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
主要技術(shù)參數(shù)
型號(hào) KCT-1
工作原理 電磁感應(yīng)
測量范圍 0~1000um
測量精度 ±（3%H±1.5）
顯示精度 0~99.9um：0.1um/100um以上：1um
統(tǒng)計(jì)功能（單次測量） 平均值、最大值、最小值、測量次數(shù)
最小基體 10*10 mm
最小曲率 凸5mm；凹25mm
最薄基體 0.5mm
環(huán)境溫度 0℃~40℃
相對濕度 不超過85%
電源 DC9V×1
機(jī)身尺寸 125mm×74mm×33mm
低電量顯示、自動(dòng)關(guān)機(jī)
附件：
標(biāo)準(zhǔn)片 3片
清潔布1塊
說明書1份
保修卡1張
QNix 7500QNix 7500|涂層測厚儀|keyless 7500（記憶型）膜厚儀
QNix 7500|涂層測厚儀|keyless 7500（記憶型）膜厚儀1.只需調(diào)零、無需校準(zhǔn) 2.Fe/NFe、Fe、NFe多種探頭可選 3.一體化、分體自由組合 4.自動(dòng)開關(guān)機(jī) 5.可配多種探頭 6.可存儲(chǔ)3900組數(shù)據(jù)（7500記憶型）
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CT-3CT-3電解式膜厚儀
熒光X-Ray膜厚儀
| 產(chǎn)品型號(hào): | EX-3000 |
| 產(chǎn)品名稱: | 螢光X線膜厚計(jì) EX-3000 |
| 相關(guān)說明: | |
熒光X-Ray膜厚儀特性： 1. 采用中文窗口操作系統(tǒng)，操作性簡便。 2. 厚度測量極限:分辨率0.001um。 3. 可測試項(xiàng)目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學(xué)鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時(shí)測定、元素光譜分析。 4. 油浸式微小焦點(diǎn)X線管，50KV管電壓，由上而下垂直照射方式。 5. 采用多頻分析器，可快速處理能譜分析，可執(zhí)行測定物之能譜分析表示，操作簡單。 6. 濾波器:采用Co、Ni金屬及數(shù)字式濾波器，可單一或同時(shí)使用。 7. 準(zhǔn)直器：采用5種孔徑一體式之Collimator可設(shè)定任意切換方式。 8. 彩色樣品觀察系統(tǒng)，附有＋字刻度線，清楚顯示測定位置。 9. 客戶、各部品番號(hào)、批號(hào)，可登錄在頻道內(nèi)，共有300個(gè)測量頻道數(shù)。 10.自動(dòng)測定測量臺(tái)，可使利用鼠標(biāo)或搖桿來輸入及調(diào)整測定位置，可登錄儲(chǔ)存100組自動(dòng)測定頻道，可作坐標(biāo)補(bǔ)正及頻道連結(jié)。 11.采用中文窗口作業(yè)軟件，設(shè)計(jì)及打印測量報(bào)告，插入測量位置的彩色圖片、非常容易。 12.可作數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理及三次元之分布圖案。 13.自動(dòng)診斷機(jī)能，故障排除對策迅速。附有X線管的使用時(shí)間及壽命表示機(jī)能，加強(qiáng)保養(yǎng)的安全性。 14.測定資料可保存在頻道內(nèi)，在統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目設(shè)定后可做統(tǒng)計(jì)處理。 | |
PIG 455破壞式膜厚儀
破壞式膜厚儀設(shè)計(jì)與功能：
PIG 455由1個(gè)黑色的氧化鋁部件構(gòu)成，它包含以下功能元件：
—可更換的碳化物刀頭，具有精確的角度切割刀。
—一個(gè)50倍的測量顯微鏡和一個(gè)刻度（2mm 分為100格），它也適用于檢查任務(wù)。
—兩對支腳用于支持測量顯微鏡和導(dǎo)向碳化物刀頭。
—電池槽可9V 電池
—LED可更好的照明樣品
—開關(guān)設(shè)置（點(diǎn)亮）
破壞式膜厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)：
測量范圍：0－200µm（標(biāo)準(zhǔn)配置）
尺寸：110×85×25mm
重量：0.4kg
顯微鏡放大倍數(shù)：50倍
刻度：2µm（1/100 格）
QuaNix 4500德國QuaNix 4500測厚儀，膜厚儀
德國QuaNix 4500測厚儀，膜厚儀品 牌: 德國QuaNix （尼克斯）雙 功 能:Δ 測量鋼、鐵等磁性（Fe）基體上的非磁性涂鍍層的厚度;如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鋁、錫、鉛、鎘等;Δ 測量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性（NFe）基體上非導(dǎo)電層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、氧化層等。 特 點(diǎn)：1、只需調(diào)零、無需校準(zhǔn) 2、Fe/NFe兩用探頭 3、一體化設(shè)計(jì) 4、自動(dòng)開關(guān)機(jī) 技術(shù)參數(shù)：基 體： Fe/NFe探頭形式： 一體化顯 示： LCD數(shù)字顯示測量范圍： Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm 測量精度： 0－50μm：≤±1μm 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2% 2000－5000μm≤±3%顯示精度： 1μm工作溫度： －10 － ＋60℃溫度補(bǔ)償： 0－50℃最小基體： 10mm×10mm最小曲率： 凸、凹半徑：3mm/25mm最薄基體： Fe：0.2mm NFe：0.05mm電 源： 5號(hào)電池2節(jié)重 量： 110g尺 寸： 110×60×27mm
CMI900膜厚儀CMI900膜厚儀測量儀
CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具，廣泛應(yīng)用于PCB， 五金端子連接器，電子元?dú)饧荣F金屬電鍍測量行業(yè)
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制，
x射線熒光測厚儀技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um 相對與標(biāo)準(zhǔn)片
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米x射線熒光測厚儀樣品臺(tái)選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：一：手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二：x射線熒光測厚儀自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI900x射線熒光測厚儀主要技術(shù)規(guī)格如下：
| No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
| 1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標(biāo)準(zhǔn) 75W4-50kV，0-1.5mA－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
| 裝備有安全防射線光閘
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| 2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
| 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
| 位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
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| 3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 | |
| 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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| 4 | 測量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器 | |
| 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm使用0.3mm準(zhǔn)直器
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| 5 | X射線探測系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | |
| 裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
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| 6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
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| －樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
| －最大樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm | |
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 | ||
CM8829SFN精密膜厚儀|漆膜測厚儀價(jià)格
CM8829SFN精密膜厚儀 產(chǎn)品應(yīng)用：用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
CM8829SFN精密膜厚儀 產(chǎn)品功能：測量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
CM8829SFN精密膜厚儀 技術(shù)指標(biāo)：產(chǎn)品型號(hào)：CM-8829S（分體傳感器涂層測厚儀）測量方法：F 磁感應(yīng) NF 渦流測量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um分辨率：0.1/1最小測量面積：6mm最薄基底：0.3mm 自動(dòng)關(guān)機(jī)使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH度：±（1～3%n）或±2um公制/英制：可選擇電源：4節(jié)7號(hào)電池電池電壓指示：低電壓提示外形尺寸：126X65X27mm重量：81g（不含電池）測量范圍可選：0-200um to15000um
售后：
產(chǎn)品保修：一年保修（消耗品、配件除外）,終身服務(wù)（過保后只收取工本費(fèi)）。貨物配送：貨物小于5KG，一般采用快遞發(fā)貨；大于5KG一般是公路、鐵路發(fā)貨。到貨期：江浙滬一般2-3天到貨; 國內(nèi)其它地區(qū)，一般3-4天。發(fā)票類型：開17%增值稅發(fā)票,普通發(fā)票。
膜厚儀
電鍍膜厚儀
電鍍膜厚儀特點(diǎn)：中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0．001um， 最小測量面積0．1mmΦ可測量合金層之厚度和組成比例可測量兩層以上鍍層之個(gè)別厚度藉由光譜分析可判定被測物之元素適用對象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。
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