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德國(guó)QuaNix4500膜厚儀代理

4500測(cè)厚儀，德國(guó)QuaNix4500膜厚儀

QuaNix4200/4500: 1.只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn) 2.Fe/NFe兩用探頭 3.一體化設(shè)計(jì) 4.自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)

QuaNix技術(shù)參數(shù)
型號(hào)	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基體	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探頭形式	一體				一體、分體	無(wú)線分體
顯示	LCD數(shù)字顯示
測(cè)量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
測(cè)量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補(bǔ)償	0－50℃
存儲(chǔ)	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900個(gè)測(cè)量值，999個(gè)數(shù)據(jù)組
數(shù)據(jù)傳輸	－			RS232打印、電腦
統(tǒng)計(jì)功能	－			平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
超限報(bào)警	－					上下限
最小基體	10mm×10mm
最小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
最薄基體	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號(hào)電池2節(jié)		9V堿性電池1節(jié)			5號(hào)電池2節(jié)
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：其它工量具類(lèi) 實(shí)驗(yàn)室耗材理化分析儀器光澤儀/色差計(jì) 鉛筆硬度計(jì)/百格刀涂鍍層測(cè)厚儀 UV能量測(cè)試儀試驗(yàn)機(jī)檢測(cè)類(lèi)

菲希爾XDL系列膜厚儀，是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X－RAY光譜膜厚儀XDL-B系列，其非破壞式的測(cè)量，特別適合金屬鍍層厚度，如一些五金零件、電路板及測(cè)量電鍍槽中的金離子的含量檢測(cè)。其采用了高次數(shù)率的比例接收器，可以在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下，對(duì)金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測(cè)量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下，可測(cè)量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列膜厚儀的長(zhǎng)期穩(wěn)定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時(shí)間及次數(shù)，便于管理儀器，并提高生產(chǎn)效率.應(yīng)用范圍廣泛，包括了測(cè)量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測(cè)量、電鍍槽中的藥水成份分析。

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：涂層測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀膜厚儀菲希爾

LZ-990膜厚儀

1.本儀器是KETT品牌最新款雙用一體機(jī),,機(jī)型小巧,方便攜帶,性能穩(wěn)定,功能廣泛的實(shí)用型機(jī).有較高的性價(jià)比.

2．對(duì)磁性和渦流的測(cè)定方式有自動(dòng)識(shí)別轉(zhuǎn)換功能,無(wú)需人工調(diào)整.有4種語(yǔ)言顯示及儲(chǔ)存功能等.

3.探頭上配有曲面器可測(cè)圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測(cè)量平面及小面積的工件.

技術(shù)參數(shù):

型號(hào) LZ-990J

測(cè)定方法電磁和渦流兩用型

測(cè)定對(duì)象磁性金屬上的非磁性涂鍍層和非磁性金屬上的絕緣層

測(cè)量范圍 0~3000μm或0~120.0mils

測(cè)量精度 ﹤50μm時(shí)，±1μm ＞50μm﹤1000μm時(shí)，±2% ＞1000μm≦3000μm時(shí)，±3%

分辨率＜100μm時(shí)，0.1μm ＞100μm時(shí),1μm

最小測(cè)試面積 ≥5*5mm

數(shù)據(jù)輸出接口 USB接口或連接打印機(jī)（可選）

顯示方式數(shù)顯式LCD

統(tǒng)計(jì)功能測(cè)試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差,可存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 有成組儲(chǔ)存（電磁式和渦流式各8組）,共計(jì)16組

功能設(shè)定各種設(shè)定共15種

測(cè)量單位 um和mils互換

測(cè)量方式單次測(cè)量/連續(xù)測(cè)量

語(yǔ)言顯示中文/英文/日文/韓語(yǔ)

工作方式直接方式/成組方式統(tǒng)計(jì)功能

測(cè)試次數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差

存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 1000個(gè)

其它可連接VZ-330型打印機(jī),可與PC機(jī)通訊上下限界數(shù)據(jù),

外形尺寸:82（W）*99.5（D）*32（H）mm

重量:160g

可選配件工作臺(tái),打印機(jī),打印機(jī)連接線,電腦通訊線

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：不導(dǎo)電測(cè)試儀

膜厚儀

為了實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的高品質(zhì)要求，在我們的企業(yè)內(nèi)部擁有極為高效的縱向生產(chǎn)機(jī)制。在我們的生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)，高素質(zhì)的員工使用最現(xiàn)代化的機(jī)器認(rèn)真、敬業(yè)地完成每一道生產(chǎn)步驟。我們非常希望客戶能從我們的產(chǎn)品中獲得最大的收益，因此我們樂(lè)于將我們知道的應(yīng)用技巧和專(zhuān)業(yè)知識(shí)進(jìn)行推廣宣傳。我們會(huì)按客戶的使用程度舉辦“測(cè)量基礎(chǔ)技術(shù)培訓(xùn)班”、 “設(shè)備最佳使用研討會(huì)”和“針對(duì)特別應(yīng)用的座談會(huì)”。特點(diǎn)：配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)典型應(yīng)用領(lǐng)域鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）來(lái)料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控研究和開(kāi)發(fā)電子工業(yè)接插件和觸點(diǎn)黃金、珠寶和鐘表工業(yè)可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層痕量元素分析在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量硬質(zhì)鍍層分析

技術(shù)指標(biāo)：

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。一次可同時(shí)分析最多24個(gè)元素，五層鍍層。分析檢出限可達(dá)2ppm，最薄可測(cè)試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： x熒光光譜儀

PIG多用途干膜儀（破壞式膜厚儀）

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Ø漆膜多用檢測(cè)儀是根據(jù)GB/T13452.2方法4B（ISO.2808-4B法）GB/T9286（ISO.2409）、GB/T9275（ISO.2815）標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造的。它不僅適用于有機(jī)涂料漆膜厚度（亦多層膜總厚度、單層膜厚度及膜層數(shù)）、劃格法附著力、巴克霍爾茲壓痕硬度的測(cè)定，還可以用來(lái)研究針孔、坑洼、裂紋、汽泡、剝落、底材處理的質(zhì)量及膜層間的其它現(xiàn)象，并可以在不同的底材（鋼、非磁性金屬、塑料、木材等）上測(cè)量厚度，范圍從2um到2000um。

Ø漆膜多用檢測(cè)儀可以在一種儀器上完成對(duì)有機(jī)涂料多種性能的試驗(yàn)及檢測(cè)，且試驗(yàn)方法簡(jiǎn)捷、直觀，測(cè)量分辯率高（±0.001mm），是實(shí)驗(yàn)室和施工現(xiàn)場(chǎng)理想的測(cè)試儀器。

二、結(jié)構(gòu)和工作原理

Ø漆膜多用檢測(cè)儀由機(jī)體、輪夾、支承柱、顯微鏡及照明裝置構(gòu)成。

Ø該儀器以不同規(guī)格的工具，根據(jù)不同試驗(yàn)的需要，分別將涂層做V形切口、格陣圖形割劃或壓痕。其涂層厚度值、涂膜剝離現(xiàn)象及壓痕產(chǎn)生的影象，可用顯微鏡直接觀察。儀器標(biāo)尺的分度已通過(guò)校準(zhǔn)系數(shù)換算成相應(yīng)的微米數(shù)，因此可從顯微鏡中直接讀出被測(cè)漆膜的實(shí)際厚度和壓痕長(zhǎng)度值。

三、枝術(shù)指標(biāo)

1.漆膜測(cè)厚切割刀

a. 1號(hào)切刀：厚度范圍20―2000um　每一格20um

b. 2號(hào)切刀：厚度范圍10―1000um 每一格10um

c.3號(hào)切刀：厚度范圍　2―200μm　　每一格2μm

2.劃格附著力多刃切割刀

a.間距分別為：1mm、2mm

3.巴克霍爾茲壓痕刀半徑：R15mm有效負(fù)荷：500±5g

四、試驗(yàn)用具

1．軟毛刷自備

2.粘膠帶自備

3.記號(hào)筆隨儀器提供

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：潘通色卡色差檢測(cè)儀對(duì)色燈箱耐磨試驗(yàn)機(jī) UV能量計(jì) 粘度計(jì) 涂層測(cè)厚儀光澤度儀鉛筆硬度計(jì) 百格刀

德國(guó)BYK PG-3432 破壞式涂層測(cè)厚儀破壞式膜厚儀

BYK3432 破壞式膜厚儀用途:1、在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材等）測(cè)量涂層厚度（測(cè)量范圍2-2000 µm）；2、通過(guò)顯微鏡可觀察，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制；3、可用十字劃格刀進(jìn)行附著力的測(cè)試符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM D 3359，DIN 53 151，以及壓痕硬度測(cè)試符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2815；訂購(gòu)信息：型號(hào) 名稱(chēng) 燈泡電池顯微鏡尺寸PG-3430 多用途干膜檢驗(yàn)儀帶刀頭白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mmPG-3432 多用途干膜檢驗(yàn)儀不帶刀頭白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mm基本配置如下：多用途干膜檢驗(yàn)儀；旋轉(zhuǎn)頭附3個(gè)膜厚刀頭（#1－3）；內(nèi)置式顯微鏡（標(biāo)尺0－2mm）；發(fā)光二極管（LED）；電池；操作說(shuō)明書(shū)；注意：1、訂購(gòu)PG-3432時(shí)，膜厚刀頭必須另外訂購(gòu)；2、附著力刀頭和壓痕硬度刀頭必須另外訂購(gòu)；

刀頭選件:編號(hào) 名稱(chēng) 漆膜厚度A3419 特殊刀頭 0-100umA3420 特殊刀頭 0-3000umA3421 1號(hào)刀頭 20-2000umA3422 2號(hào)刀頭 10-1000umA3423 3號(hào)刀頭 2-200um

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：露點(diǎn)儀雷達(dá)測(cè)速儀扭力計(jì) 電子天平推拉力計(jì) 熱像儀轉(zhuǎn)速表頻閃儀粗糙度儀電火花檢測(cè)儀磁粉探傷儀甲烷檢測(cè)儀電導(dǎo)率儀壁厚測(cè)厚儀電磁場(chǎng)頻譜分析儀輻射儀密度計(jì) 濃度計(jì) 在線和過(guò)程檢測(cè) 傳感與測(cè)控

膜厚儀，哪家磁性渦流兩用型膜厚儀好用，首選DR280鐵基鋁基雙功能涂層測(cè)厚儀

分體兩用型膜厚儀，鐵基鋁基涂膜測(cè)厚儀-DR280磁性渦流兩用涂層測(cè)厚儀。 . 雙功能技術(shù)的測(cè)厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測(cè)量自動(dòng)轉(zhuǎn)換應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法，適用于各種測(cè)量環(huán)

境。可測(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。

東儒DR280兩用型膜厚儀應(yīng)用了磁性和渦流兩種測(cè)量方法，測(cè)量金屬表面的覆層厚度。磁性測(cè)厚方法，可以快速無(wú)損檢測(cè)磁性金屬鋼、鐵材料的涂層，鍍層，鋅層，鉻層，油漆，塑料，粉末，干膜，搪瓷等覆層的厚度。渦流測(cè)厚方法，可以快速無(wú)損檢測(cè)非磁性金屬鋁，銅，不銹鋼材料表面上的涂料，油漆，塑料，粉末，干膜，塑料等覆層厚度的都可以測(cè)量。涂層測(cè)厚儀DR280型號(hào)是一款兩用型涂層測(cè)厚儀，中國(guó) 廣東出產(chǎn)的涂層測(cè)厚儀，最好用，涂層測(cè)厚儀首選東儒測(cè)厚儀280涂層測(cè)厚儀；涂層測(cè)厚儀也叫覆層測(cè)厚儀，油漆測(cè)厚儀，磁性渦流兩用測(cè)厚儀，專(zhuān)業(yè)檢測(cè)金屬表面涂層厚度由中國(guó)。廣州東儒儀器公司制造提供。

***操作簡(jiǎn)單，測(cè)試速度快，靈敏度好，測(cè)量精度高***具有兩種測(cè)試方式：連續(xù)（CONT INUE）和單次（SINGLE）測(cè)量方式***連接電腦進(jìn)行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打印（適用U型主機(jī)）***公英制轉(zhuǎn)換μm/Mil***設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測(cè)量次數(shù)（No）***大容量存儲(chǔ)，可存貯800多個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)*** 背光顯示模式，低電壓指示***手動(dòng)/自動(dòng)關(guān)機(jī)功能l 可采用兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)***操作過(guò)程有蜂鳴聲標(biāo)示（單次測(cè)量方式）***自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基底材

二、DR280涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)A、測(cè)量范圍：0-1250/3000μm（超過(guò)1250μm要提前告知廠家另行定制）B、使用環(huán)境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用C、最薄基體：0.4mmD、測(cè)量精度：±（1%-3%）+1.5μmE、分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）F、最小基體面積10*10mmG、最小曲率：凸5mm;凹5mmH、基體臨界厚度：0.5mmI、外形尺寸：130mm*70mm*24mmJ、重量：100gK、電源：三節(jié)（7號(hào)）堿性電池

三、DR280涂層測(cè)厚儀儀器標(biāo)配：儀器箱：一個(gè)主機(jī)：一臺(tái);標(biāo)準(zhǔn)片：4片基體：2塊（鐵基、鋁基）電池：2節(jié)清潔布：1塊說(shuō)明書(shū)：1份（內(nèi)附保修卡）合格證：1份

選配：U型主機(jī)，數(shù)據(jù)連接線、光盤(pán)軟件

東儒DR280涂層測(cè)厚儀廣泛用于在防腐施工，制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

四、儀器免費(fèi)保修一年，七天包換；

廣州東儒科技公司是一家專(zhuān)業(yè)研發(fā)生產(chǎn)測(cè)厚儀的廠家，采用進(jìn)口工業(yè)級(jí)元件，穩(wěn)定性好，可靠性高，測(cè)量誤差小，操作簡(jiǎn)單，外觀精美，功能強(qiáng)大，本公司全國(guó)誠(chéng)征代理商，歡迎來(lái)電合作。

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：超聲波測(cè)厚儀透光率儀涂底層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀

SurfixProS專(zhuān)業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀德國(guó)菲尼克斯Surfix Pro S

專(zhuān)業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀德國(guó)菲尼克斯Surfix Pro S

德國(guó)菲尼克斯Surfix Pro S，專(zhuān)業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀的詳細(xì)介紹

1.強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理功能.分500組存儲(chǔ)1萬(wàn)個(gè)測(cè)值,特快反應(yīng)速度

2.同屏顯示各統(tǒng)計(jì)值，配合7種測(cè)頭

UHZ-111 UHZ-111/D UHZ-111/C UHZ-111/S UGD UHZ-58 UHZ-58/W UHZ-58/F UHZ-58/D UHZ-58/C UHZ-58/S UHZ UGD/HG5 KEY FYKG FYK RF-3001 UQZ-71LX UHZ-111/S UHZ-111/C UHZ-111/D UHZ-111 UHZ-111/F UHZ-58

3.可測(cè)鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層

4.量程：0~10mm 精度：0.1μm，見(jiàn)測(cè)頭參數(shù)

5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機(jī) 6.探頭需另選購(gòu)

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：電磁閥調(diào)壓閥電壓表記錄儀調(diào)節(jié)儀溫度變送器分析天平精密天平濁度計(jì) 電動(dòng)調(diào)節(jié)閥電動(dòng)執(zhí)行機(jī)構(gòu) 電火花檢漏儀消化爐定氮儀磁力攪拌器可燃?xì)怏w探測(cè)器熱電阻氣體檢測(cè)儀過(guò)濾器電磁流量計(jì) 差壓變送器壓力變送器

LZ-990日本KETTlz-990膜厚計(jì)

デュアルタイプ膜厚計(jì)LZ-990「エスカル」

デュアルタイプ膜厚計(jì)LZ-990「エスカル」はシンプルな小型膜厚計(jì)です。しかしながら膜厚管理に必要な機(jī)能は充実し、アプリケーション・メモリ（検量線メモリ）機(jī)能、測(cè)定データ・メモリ、膜厚管理の上下限設(shè)定、簡(jiǎn)単な統(tǒng)計(jì)処理、データ出力など15種の機(jī)能を裝備しています。磁性金屬に施された被膜厚測(cè)定と、非磁性金屬に施された被膜厚等の測(cè)定が可能です。しかも、素材を判別しその測(cè)定モードへ自動(dòng)的に切り替わります。プリンタや測(cè)定スタンド、外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています。

●仕様	LZ-990「エスカル」
測(cè)定方式	電磁・渦電流式兼用（自動(dòng)判別機(jī)能付き）
測(cè)定対象	磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の絶縁被膜
測(cè)定範(fàn)囲	0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils
測(cè)定精度	50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％
適合規(guī)格	電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
分解能	100μm未満0.1μm100μm以上1μm
表示方法	デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm）
データメモリ	約1000點(diǎn)
アプリケーションメモリ	電磁式・渦電流式各8種　計(jì)16本の検量線を記憶
電源	電池1.5V （単4 アルカリ）× 2
消費(fèi)電力	40mW（バックライト非點(diǎn)燈時(shí)）
使用溫度範(fàn)囲	0 ～ 40℃
機(jī)能	検量線メモリ（アプリケーション・メモリ）、測(cè)定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動(dòng)電源ON/OFF、機(jī)能、時(shí)計(jì)機(jī)能、上下限設(shè)定、統(tǒng)計(jì)計(jì)算、バックライト機(jī)能、単位設(shè)定、等の各種機(jī)能15 種
外部出力	パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能
寸法・質(zhì)量	82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g
付屬品	ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標(biāo)準(zhǔn)板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ
オプション	標(biāo)準(zhǔn)板（付屬品以外の厚さ）、測(cè)定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護(hù)カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)產(chǎn) 色差儀測(cè)厚儀

XRF-2000韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

產(chǎn)品介紹

X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。

XRF-2000 系列分為以下三種： 1. H-Type :密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測(cè)量樣品較小，高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) 。應(yīng)用 : 測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。行業(yè) : 五金類(lèi)、螺絲類(lèi)、 PCB 類(lèi)、連接器端子類(lèi)行業(yè)、電鍍類(lèi)等。特色 : 非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層（五層厚度 + 底材）并可同時(shí)分析多種元素。相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告。全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來(lái)選擇準(zhǔn)值器的口徑。移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種專(zhuān)業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對(duì)位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可靠度以及擁有價(jià)格與零件的最佳優(yōu)勢(shì)。儀器正常使用保固期一年，強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。測(cè)試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韓國(guó)Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測(cè)厚兩用的XRF-2000R型號(hào)

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能，

其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測(cè)器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;

可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；

電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>

定性分析超過(guò)30種元素,能夠測(cè)量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；

貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；

自動(dòng)過(guò)濾器，多準(zhǔn)直儀（五個(gè)準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái)；

性價(jià)比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）

可測(cè)量樣器大�。篧550mm D550mm H30mm

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：其他儀器水質(zhì)檢測(cè) 控制器及配件金相耗材測(cè)厚儀