BYK細(xì)度板細(xì)度計(jì),德國(guó)BYK 多種類型的固體材料被研磨成較細(xì)的顆粒以便在設(shè)備中分散,最終分散的物理性質(zhì)通常叫做 “細(xì)度",它不但取決于單個(gè)顆粒的實(shí)際大小,還取決于被分散的程度。 分散的程度由微米或是"Hegman"值由0-8逐步變化。0 Hegman = 100 微米顆粒大小。4 Hegman = 50 微米顆粒大小。8 Hegman = 0 微米顆粒大小。 細(xì)度板的使用能指示出在分散中存在不希望出現(xiàn)的粗顆;蚴堑念w粒,它并不是測(cè)定涂料中顆粒的大小或是顆粒度的分布。細(xì)度板用在控制被分散產(chǎn)品在生產(chǎn)、存儲(chǔ)和應(yīng)用中的質(zhì)量。諸如油漆、塑料、顏料、印刷油墨、紙張、陶瓷、醫(yī)藥、食品等。 操作步驟: 將稍多一點(diǎn)的樣品倒入凹槽的較深的一端,用所提供的刮刀的直邊將樣品朝凹槽的較淺一端刮拉,在細(xì)度板表面看到有許多粗糙顆粒的位置即是對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)。 標(biāo)準(zhǔn):ASTM D 333 D 1210 D 1316 FTMS 141 a, 方法4411.1 DIN EN 21524 ISO 1524 基本配置如下: 細(xì)度板塊 凹槽數(shù):2個(gè) 刮刀 凹槽尺寸:13×130mm 盒子 尺寸: 169×42×13mm 重量: 1千克 產(chǎn)品選型 PD-1509 細(xì)度板15 測(cè)量范圍:0~15μm 8~6.8 Hegman PD-1510 細(xì)度板25 測(cè)量范圍:0~25μm 8~6 Hegman PD-1511 細(xì)度板50 測(cè)量范圍:0~50μm 8~4 Hegman PD-1512 細(xì)度板100 測(cè)量范圍:0~100μm 8~0 Hegman 可更換刮刀訂購信息: PD-1518 可更換劃刀,不銹鋼 重量: 0.12千克 0.45千克 |
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產(chǎn)品介紹: | QXD系列刮板細(xì)度計(jì) QXD型刮板細(xì)度計(jì)是根據(jù)化學(xué)工業(yè)部專用計(jì)量器具檢定規(guī)程《刮板細(xì)度計(jì)》的要求制作。用于測(cè)定色漆和漆漿內(nèi)顏料及雜質(zhì)等顆粒的細(xì)度。適用于GB/T1724-93標(biāo)準(zhǔn)。 | |
產(chǎn)品特點(diǎn): | QXD系列刮板細(xì)度計(jì) 1.本產(chǎn)品采用國(guó)家指定鋼材制作(cr12鉬釩)。 2.本產(chǎn)品用不銹鋼材質(zhì)制作,產(chǎn)品尺寸為:170×50×13mm。 3.外形尺寸:160×50×13mm(長(zhǎng)×寬×高)。 |
技術(shù)參數(shù): | |
QXD系列刮板細(xì)度計(jì) 訂貨信息: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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QXD系列刮板細(xì)度計(jì) 相關(guān)儀器 :
·QXD系列刮板細(xì)度計(jì) | ·QXP系列ISO標(biāo)準(zhǔn)刮板細(xì)度計(jì) |
·GF-B型劃格法附著力試驗(yàn)儀 |
主要技術(shù)參數(shù):1.型號(hào): (單槽)QXP 0-25 0-50 0-100
(雙槽)QXP 0-25 0-50 0-100
3.外形尺寸: 175*65*13mm(長(zhǎng)*寬*高)
4.本產(chǎn)品采用國(guó)家指定鋼材制作(cr12鉬釩)
5.本公司還可以定做各種異型的刮板細(xì)度計(jì)產(chǎn)品
刮板細(xì)度計(jì)
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型號(hào):JX208860QXD刮板細(xì)度計(jì) | 型號(hào):JX209112Elcometer2080細(xì)度板 | 型號(hào):JX208862Elcometer2020 , 2041 細(xì)度板 |
Elcometer 2080 Meier細(xì)度板
型號(hào) | 測(cè)量范圍 | 參數(shù) | 零件編號(hào) | |||||||
μm | mils | 槽數(shù) | 槽寬 | 槽長(zhǎng) | 單位刻度 | 公制 | 英制 | |||
mm | 英寸 | mm | 英寸 | mm | ||||||
Elcometer 2080/1 | 0-1000 | 0-40 | 1 | 60 | 2.36 | 200 | 7.87 | 0.05 | K0002080M001 | K0US2080M001 |
Elcometer 2080/2 | 0-2000 | 0-80 | 1 | 60 | 2.36 | 200 | 7.87 | 0.10 | K0002080M002 | K0US2080M002 |
Elcometer 2080/3 | 0-3000 | - | 1 | 60 | 2.36 | 200 | 7.87 | 0.15 | K0002080M003 | - |
型號(hào) | 測(cè)量范圍 | 參數(shù) | 零件編號(hào) | ||||||||||
μm | mils | Hegman(NS) | North(PCU) | 槽數(shù) | 槽寬 | 槽長(zhǎng) | 單位刻度 | 公制 | 英制 | ||||
mm | inches | mm | inches | μm | mils | ||||||||
Elcometer 2041/1 | 0-15 | - | - | - | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 1 | - | K0002041M001 | - |
Elcometer 2041/2 | 0-25 | 0 - 1 | - | - | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 2.5 | 0.1 | K0002041M002 | K0US2041M002 |
Elcometer 2041/3 | 0-50 | 0 - 2 | - | - | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 5 | 0.2 | K0002041M003 | K0US2041M003 |
Elcometer 2041/4 | 0-100 | 0 - 4 | - | - | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 10 | 0.5 | K0002041M004 | K0US2041M004 |
Elcometer 2020/3 | 0-15 | - | 8-7 | 10-9 | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 1 | - | K0002020M003 | - |
Elcometer 2020/4 | 0-25 | 0 - 1 | 8-6 | 10-8 | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 2.5 | 0.1 | K0002020M004 | K0US2020M004 |
Elcometer 2020/1 | 0-50 | 0 - 2 | 8-4 | 10-5 | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 5 | 0.2 | K0002020M001 | K0US2020M001 |
Elcometer 2020/2 | 0-100 | 0 - 4 | 8-0 | 10-0 | 2 | 12 | 0.47 | 127 | 5.0 | 10 | 0.5 | K0002020M002 | K0US2020M002 |
選購件 | Elcometer 2020: 備用刮刀 | KT002020N001 | |||||||||||
Elcometer 2041: 備用刮刀 | KT002030N001 |
刮板細(xì)度計(jì)
說明:多種類型的固體材料都必須被研磨成較細(xì)的顆粒以便在流體設(shè)備中分散,最終分散的物理性質(zhì)通常叫做“細(xì)度”。它不但取決于單個(gè)顆粒的實(shí)際大小,還取決于他們被分散的程度。細(xì)度板的使用能指示出在分散中存在不希望出現(xiàn)的粗顆粒或是聚集的顆粒。它并不是測(cè)定涂料中顆粒的大小或是顆粒度的分布。
細(xì)度板用在控制被分散產(chǎn)品在生產(chǎn)﹑存儲(chǔ)和應(yīng)用中的的質(zhì)量,諸如油漆﹑塑料﹑顏料﹑印刷油墨﹑紙張﹑陶瓷﹑醫(yī)藥﹑食品等。
細(xì)度板是一個(gè)在表面有凹槽的平鋼塊,凹槽的深度由一端的最大變化至另一端的零值。在鋼塊上標(biāo)注出一個(gè)或多個(gè)凹槽深度的標(biāo)尺,以讀出測(cè)量顆粒的大小。它的設(shè)計(jì)符合GB/T 1724-89、GB/T6753.1-86、ISO1524-83,用于測(cè)定涂料、漆漿、油墨和其它液體及漿狀物中顏料及雜質(zhì)顆粒大小和分散程度。分散的程度由微米或是“Hegman”表示出,隨著顆粒尺寸變小,“Hegman”值由0-8逐步變化。 0 Hegman = 100微米顆粒大小 4 Hegman = 50微米顆粒大小 8 Hegman = 0微米顆粒大小 操作步驟: 將稍多一點(diǎn)的樣品倒入凹槽的較深的一端,用所提供的刮刀的直邊將樣品朝凹槽的較淺一端刮拉,在細(xì)度板表面看到有許多粗糙顆粒的位置即是對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)。