探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家
錦正茂三維磁場(chǎng)探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2024-12-20
定制探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過(guò)真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2024-12-20
磁場(chǎng)探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場(chǎng)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過(guò)真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2024-12-20
該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-12-20
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量?jī)x器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-12-20
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測(cè)試（4.2k~500k）。
更新時(shí)間:2024-12-20
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2024-12-20
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試（10k~325k）。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2024-12-20
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑：50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
更新時(shí)間:2024-12-20
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線(xiàn)等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-12-20
東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)儀器特點(diǎn)：1. 模擬運(yùn)輸振動(dòng)：該振動(dòng)臺(tái)能夠精準(zhǔn)地模擬汽車(chē)在道路上運(yùn)輸時(shí)的振動(dòng)情況，確保產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng)：配備高精度控制系統(tǒng)，可精
更新時(shí)間:2024-12-18
氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-12-14
高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無(wú)氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場(chǎng)，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-14
高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80k-420k高低溫測(cè)試環(huán)境，
更新時(shí)間:2024-12-14
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-14
該類(lèi)型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶(hù)的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2024-12-14
jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶(hù)的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-14
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-14
xf807-kba123型防爆云臺(tái)是隔爆型電器設(shè)備，適用于石油、化工等企業(yè)含有易燃、易爆氣體及可燃性混合物的場(chǎng)所。
更新時(shí)間:2024-12-13
xf807-czh-9型擴(kuò)音電話(huà)終端機(jī)分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場(chǎng)所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話(huà)機(jī)照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時(shí)間:2024-12-13
手動(dòng)檢針器 檢針器可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類(lèi)金屬可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類(lèi)金屬。。
更新時(shí)間:2024-12-13
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試； 屏蔽測(cè)試，完全消除光線(xiàn)對(duì)樣品測(cè)試的影響，保證測(cè)量的準(zhǔn)確性； 吸附測(cè)試，完全消除全自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響；
更新時(shí)間:2024-12-13
按照我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（astm）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針?lè)ā痹O(shè)計(jì)。配套測(cè)試架適合于測(cè)量硅芯電阻率。兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量精度一般優(yōu)于四探針?lè)ā?/div>
更新時(shí)間:2024-12-13
二探針測(cè)試儀是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。
更新時(shí)間:2024-12-13
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。 主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能，大分類(lèi)10類(lèi)。
更新時(shí)間:2024-12-13
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測(cè)量范圍：0.1歐姆/厘米以下會(huì)自動(dòng)報(bào)警。 3、測(cè)試方法：打開(kāi)筆套，將測(cè)試筆針接觸被測(cè)原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時(shí)會(huì)自動(dòng)報(bào)警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報(bào)警。
更新時(shí)間:2024-12-13
可檢測(cè)小件服裝、手套、皮革、拉鏈等，也可以協(xié)助輸送帶機(jī)找出斷針小件服裝、絲襪、手套、皮革、拉鏈等物體
更新時(shí)間:2024-12-13
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試；
更新時(shí)間:2024-12-13
sjx電動(dòng)臥式測(cè)試臺(tái)一、sjx電動(dòng)臥式測(cè)試臺(tái)的功能： sjx電動(dòng)臥式機(jī)臺(tái)是專(zhuān)為hf系列和nk系列推拉力計(jì)配套用的推拉負(fù)荷試驗(yàn)臺(tái)。本產(chǎn)品采用雙導(dǎo)桿結(jié)構(gòu)，具有穩(wěn)定性好，適用范圍廣
更新時(shí)間:2024-12-13
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國(guó)工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專(zhuān)/業(yè)從事各種國(guó)外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營(yíng)來(lái)自歐洲、美國(guó)、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類(lèi)自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-12-12
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國(guó)工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專(zhuān)/業(yè)從事各種國(guó)外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營(yíng)來(lái)自歐洲、美國(guó)、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類(lèi)自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-12-12
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國(guó)工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專(zhuān)/業(yè)從事各種國(guó)外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營(yíng)來(lái)自歐洲、美國(guó)、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類(lèi)自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-12-12
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測(cè)試探針臺(tái)，可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測(cè)量，且測(cè)量能力高達(dá)3kv（三軸）/10kv（同軸）和600a（脈沖）。
更新時(shí)間:2024-12-10
mpi ts300-shieldenvironment™（ts300-se）12英寸探針臺(tái)旨在對(duì)300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起，使日常操作非常方便
更新時(shí)間:2024-12-10
mpi ts200-shieldenvironment™（ts200-se）8英寸探針臺(tái)可提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2024-12-10
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺(tái)具有相同的功能，并通過(guò)配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動(dòng)化的功能。mpi的解決方案通過(guò)提供比其他供應(yīng)商的半自動(dòng)化產(chǎn)品更少的完全自動(dòng)化功能，降低了客戶(hù)的總體測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2024-12-10
mpi為其的ts2000-se，ts3000，ts3000-se，ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升，
更新時(shí)間:2024-12-10
mpi的ts3000是半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)，搭配獨(dú)特的可開(kāi)放式下做高低溫測(cè)試，門(mén)為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-10
半自動(dòng)真空低溫探針臺(tái)使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測(cè)試。低溫探針臺(tái)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或氣體環(huán)境中對(duì)高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動(dòng)動(dòng)或半自動(dòng)測(cè)試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個(gè)振動(dòng)補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_(tái)上，能夠配置來(lái)各種測(cè)試應(yīng)用程序。
更新時(shí)間:2024-12-10
納米探測(cè)面臨的挑戰(zhàn)· 定位精度· 安全（軟）著陸接觸· 具有適當(dāng)尖端半徑的可靠探針頭· 清潔環(huán)境：試驗(yàn)箱、樣品、探針頭· 振動(dòng)敏感性低· 噪聲抑制· 漂移補(bǔ)償· 電路編輯/延遲：在fib角度操作
更新時(shí)間:2024-12-10
janis st-500系列探針臺(tái)是高性能的研究?jī)x器，旨在為晶片和設(shè)備提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的真空和低溫探測(cè)環(huán)境。久經(jīng)考驗(yàn)的st-500低溫恒溫器是這些探針臺(tái)的基礎(chǔ)部分，包括低振動(dòng)技術(shù)（初設(shè)計(jì)用于高空間分辨率光學(xué)顯微鏡），以提供出色的樣品位置穩(wěn)定性。 各地的研究人員正在使用這些系統(tǒng)來(lái)進(jìn)行廣泛域的研究，包括mems、納米電子學(xué)、超導(dǎo)性、鐵電學(xué)、材料科學(xué)和光學(xué)。
更新時(shí)間:2024-12-10
janis ccr閉循環(huán)系列探針臺(tái)為研究人員提供了真空和低溫測(cè)試功能，而無(wú)需使用液氦，液氮制冷。4 k、10 k和80 k低溫恒溫器使用成熟的gm制冷機(jī)冷卻樣品，性能可靠且價(jià)格合理。典型應(yīng)用包括mems、納米電子、超導(dǎo)、鐵電、材料科學(xué)和光學(xué)。
更新時(shí)間:2024-12-10
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-12-09
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-12-09
最新產(chǎn)品
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