橢偏儀產(chǎn)品及廠家
nano-master 離子束刻蝕濺射鍍膜一體機(jī) nsenresearch 4.0:擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀
更新時(shí)間:2024-12-20
德國(guó) sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀senpro,senpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5°。操作簡(jiǎn)單，快速測(cè)量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計(jì)來(lái)測(cè)量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。
更新時(shí)間:2024-12-20
sendira紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀ftir。測(cè)量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長(zhǎng)分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測(cè)量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
更新時(shí)間:2024-12-20
senduro 全自動(dòng)光譜橢偏儀,包括基于測(cè)量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動(dòng)樣品對(duì)準(zhǔn)，自動(dòng)測(cè)量和分析結(jié)果。在全自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-12-20
spectraray/4:光譜橢偏測(cè)量/分析軟件，senduro®全自動(dòng)光譜橢偏儀包括基于測(cè)量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動(dòng)樣品對(duì)準(zhǔn)，自動(dòng)測(cè)量和分析結(jié)果。在全自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-12-20
激光橢偏儀 se 400adv，激光橢偏儀se 400adv測(cè)量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測(cè)量速度、亞埃級(jí)別的厚度精度和折射率測(cè)定的精度。多角度測(cè)量允許使用激光橢偏儀se 400adv表征吸收膜特征。
更新時(shí)間:2024-12-20
se 500adv 激光橢偏儀激光橢偏儀se 500adv，橢偏儀se 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測(cè)量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。
更新時(shí)間:2024-12-20
激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測(cè)量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質(zhì)量控制。
更新時(shí)間:2024-12-20
三維掃描儀又名光學(xué)抄數(shù)機(jī)，它采用光電投射單元將結(jié)構(gòu)光面光投射在物體表面,結(jié)合計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)、光電傳感技術(shù)、圖象處理技術(shù)、以及軟件控制等實(shí)現(xiàn)對(duì)物體面形一次性快速測(cè)量,采用旋轉(zhuǎn)物體或者掃描頭,變換掃描視角,基于多視角點(diǎn)云標(biāo)記點(diǎn)的自動(dòng)拼接技術(shù),可完成物體全方位360度掃描.
更新時(shí)間:2024-12-17
多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測(cè)量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速，精確表征和分析的工具。
更新時(shí)間:2024-12-10
一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 auto se——新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
更新時(shí)間:2024-12-10
semilab擁有全球zui優(yōu)秀的電學(xué)和光學(xué)表征技術(shù)，產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于光伏、半導(dǎo)體、科研以及平板測(cè)試領(lǐng)域。憑借先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，為客戶的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控提供一套完整的測(cè)試方案，在行業(yè)中始終處于領(lǐng)xian地位。
更新時(shí)間:2024-08-26
se2000全光譜橢偏測(cè)試平臺(tái)基于橢圓偏振測(cè)試技術(shù)，采用先進(jìn)的旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器，結(jié)合光纖li技術(shù)將偏振光信號(hào)傳輸至分段光譜優(yōu)化的高分辨率單色儀或陣列式多通道攝譜儀，測(cè)得線偏振光經(jīng)過(guò)樣品反射后的偏振態(tài)變化情況，并通過(guò)樣品光學(xué)模型的建立，計(jì)算出單層或多層薄膜結(jié)構(gòu)的厚度、折射率和消光系數(shù)，實(shí)現(xiàn)精確、快速、穩(wěn)定的寬光譜橢偏測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-08-26
sentech ser 800 pv光譜橢偏儀符合perc、topcon、hjt和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽(yáng)能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡(jiǎn)單，具有高測(cè)量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學(xué)元件，使其成為在粗糙樣品表面上進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想工具
更新時(shí)間:2024-08-14
unecs系列是可以高速、高精度測(cè)量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測(cè)量方式，實(shí)現(xiàn)了高速測(cè)量和機(jī)體的小型化。我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式，自動(dòng)式和對(duì)應(yīng)真空環(huán)境的設(shè)備內(nèi)置式類型。
更新時(shí)間:2024-08-14
偏鎢酸銨水合物英文名稱：ammonium metatungstate hydratecas：12333-11-8單位：瓶貨期：2-3天偏鎢酸銨水合物100g 560
更新時(shí)間:2023-10-12
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-l光譜橢偏儀是一款全自動(dòng)高精度光譜橢偏儀，集眾多科技專利技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)測(cè)量模塊。通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。se-l光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu)：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、pzt膜，激光二極管gan和algan、透明的電子器件、平板顯示、光伏太陽(yáng)能、功能性涂料、生物和化學(xué)工程、塊狀材料分析等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：me-l是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等？蓱(yīng)用于半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu)，半導(dǎo)體周期性納米結(jié)構(gòu)，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽(yáng)能，功能性涂料，生物和化學(xué)工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器(drc)配置一次測(cè)量全部穆勒矩陣16個(gè)元素；配置自動(dòng)變角器、五維樣件控制平臺(tái)等優(yōu)質(zhì)硬件模塊，軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O(shè)計(jì)，易上手、操作便捷；豐富的數(shù)據(jù)庫(kù)和幾何結(jié)構(gòu)模型庫(kù)，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-vm 是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀。可通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測(cè)量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-pv光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對(duì)光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)能電池表面減反膜測(cè)量定制開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析。光伏橢偏儀廣泛應(yīng)用于光伏絨面單晶硅或多晶硅表面減反膜橢偏測(cè)量應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)單層到多層薄膜的薄膜、光學(xué)常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀se-glass 是一款針對(duì)玻璃蓋板行業(yè)定制的專用型光譜橢偏儀，針對(duì)玻璃蓋板光學(xué)鍍膜行業(yè)通過(guò)集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除透明基底背反測(cè)量定制開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)玻璃蓋板上多層薄膜物性表征分析。光譜橢偏儀se-glass 廣泛應(yīng)用于玻璃基底山減反膜、調(diào)光膜、導(dǎo)電膜等薄膜的膜厚，光學(xué)常數(shù)測(cè)量，完美適用于玻璃蓋板、光學(xué)薄膜等鍍膜檢測(cè)應(yīng)用。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái)，通過(guò)整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線/離線式整體橢偏測(cè)量解決方案。全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究中各種各向同性，異性薄膜材料的膜厚、光學(xué)常數(shù)以及一維、二維納米光柵的結(jié)構(gòu)表征；工業(yè)領(lǐng)域新型光電器件行業(yè)所涉及的薄膜（配向膜、光刻膠、ito、發(fā)光薄膜、封裝薄膜）全片離線化快速掃描測(cè)量。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-mapping光譜橢偏儀是一款可定制化mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)mapping測(cè)量模塊，通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測(cè)量表征分析。se-mapping光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用oled，led，光伏，集成電路等工業(yè)應(yīng)用中,實(shí)現(xiàn)大尺寸全基片膜厚、光學(xué)常數(shù)以及膜厚分布快速測(cè)量與表征。
更新時(shí)間:2023-08-23
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-ve 是一款超高性價(jià)比、快速測(cè)量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡(jiǎn)便，可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。高性價(jià)比光學(xué)橢偏測(cè)量解決方案，緊湊集成化設(shè)計(jì)，極致用戶操作體驗(yàn)，一鍵快速測(cè)量分析，人機(jī)交互設(shè)計(jì)，使用便捷，豐富的數(shù)據(jù)庫(kù)和幾何結(jié)構(gòu)模型庫(kù)，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力，廣
更新時(shí)間:2023-08-23
日本photonic lattic 通過(guò)以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀，可以做到1000點(diǎn)/分鐘，6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內(nèi)完成，不僅如此，me-210-t針對(duì)透明基板也可測(cè)量。
更新時(shí)間:2023-01-03
solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名：釩酸鈉；sodium vanadate(v)。分子式：navo3分子量：121.93cas＃：13718-26-8外觀：白色結(jié)晶或淺黃色結(jié)晶性粉末特性：溶解性：
更新時(shí)間:2022-05-01
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更新時(shí)間:2020-09-27
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更新時(shí)間:2020-09-17
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更新時(shí)間:2020-07-05
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更新時(shí)間:2020-07-05
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更新時(shí)間:2020-07-05
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更新時(shí)間:2020-07-01
specel-2000是一款操作便捷的臺(tái)式光譜橢偏儀，主要用于測(cè)量平整和半透明的樣品，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。 橢圓偏光技術(shù)是一種非接觸式、非破壞性，以光學(xué)技術(shù)測(cè)量表面薄膜特性的方法。其檢測(cè)原理是：當(dāng)一束偏振光經(jīng)過(guò)物體表面或界面時(shí)，其偏振極化狀態(tài)會(huì)被改變。而橢偏儀就是通過(guò)探測(cè)樣品表面的反射光，來(lái)測(cè)量此改變（即反射光和入射光的振幅及相位的改變量），以決定表面特性薄膜的光學(xué)常數(shù)（n、k值）及膜厚。 specel-2000測(cè)試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源、高性能線陣ccd光譜儀、導(dǎo)光器件、起偏器、樣品測(cè)試臺(tái)、檢偏器、光學(xué)增強(qiáng)元件及測(cè)量分析軟件。 specel-2000適合于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性，通常應(yīng)用于有薄膜存在的地方，其應(yīng)用
更新時(shí)間:2020-06-15
上海到武威物流公司上海到武威專線物流/上海本耐物流有限公司〔400-697-cc；139,164,58442〕是一家集公路干線運(yùn)輸、
更新時(shí)間:2020-06-05
上海到張家界物流公司 從上海貨運(yùn)到張家界需要多少錢？貨運(yùn)公司哪家好?推薦張家界物流400-697-cc，兢兢業(yè)業(yè)，風(fēng)雨無(wú)阻，公司專業(yè)承接；
更新時(shí)間:2020-06-05
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更新時(shí)間:2020-06-05
器簡(jiǎn)介： 20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對(duì)超薄膜進(jìn)行最精確的測(cè)量。采用pem相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。
更新時(shí)間:2020-05-26
新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具，工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
更新時(shí)間:2020-05-26
20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,uvisel是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對(duì)超薄膜進(jìn)行最精確的測(cè)量。采用pem相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比
更新時(shí)間:2020-05-26
智能型多功能橢偏儀smart se采用多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測(cè)量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速，精確表征和分析的工具。
更新時(shí)間:2020-05-26
鍍膜或刻蝕的過(guò)程中，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品膜的膜厚以及光學(xué)常數(shù)（n,k）變化。產(chǎn)品特點(diǎn)：將激發(fā)和探測(cè)頭引入生產(chǎn)設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)：· 動(dòng)態(tài)模式:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)膜厚變化· 光譜模式：監(jiān)測(cè)薄膜的界面和組分技術(shù)參數(shù)：
更新時(shí)間:2020-05-26
這種光子晶體探測(cè)器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創(chuàng)，并應(yīng)用到橢偏儀的測(cè)試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域領(lǐng)先世界，由此開(kāi)發(fā)出的光子晶體探測(cè)器型橢偏儀具有測(cè)試速度快、測(cè)量準(zhǔn)確、免維護(hù)、價(jià)格低廉等特點(diǎn)已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機(jī)薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該橢偏儀可快速準(zhǔn)確測(cè)量薄膜的厚度和折射率的分布。
更新時(shí)間:2020-05-21
em12-pv用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。
更新時(shí)間:2020-05-18
es03多入射角光譜橢偏儀用于測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。 es03系列適合于對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)的檢測(cè)。
更新時(shí)間:2020-05-18
ess01是針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測(cè)量推出的波長(zhǎng)掃描式、高精度自動(dòng)變?nèi)肷浣嵌裙庾V橢偏儀，此系列儀器波長(zhǎng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)、近紅外到遠(yuǎn)紅外。
更新時(shí)間:2020-05-18
empro-pv用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。empro-pv融合多項(xiàng)量拓科技專利技術(shù)，采用一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容測(cè)量單晶和多晶太陽(yáng)電池樣品，并實(shí)現(xiàn)二者的輕松轉(zhuǎn)換。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡(jiǎn)單安全。
更新時(shí)間:2020-05-18
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