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        掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

        日本JEOL 軟X射線分析譜儀
        日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
        更新時間:2024-12-20
        日本JEOL 電子探針顯微分析儀
        日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
        更新時間:2024-12-20
        日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
        日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
        更新時間:2024-12-20
        日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
        日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
        更新時間:2024-12-20
        日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
        日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
        更新時間:2024-12-20
        德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
        德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢,采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
        更新時間:2024-12-20
        太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
        thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
        更新時間:2024-12-20
        德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
        德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
        更新時間:2024-12-20
        KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
        ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
        更新時間:2024-12-20
        KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
        ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
        更新時間:2024-12-20
        德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
        ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
        更新時間:2024-12-20
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
        flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
        flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
        日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn): 1. 新型
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
        s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動化功能,操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
        更新時間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
        s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
        更新時間:2024-12-19
        韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
        table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
        更新時間:2024-12-17
        韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格
        sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
        更新時間:2024-12-17
        韓國賽可臺式掃描電鏡4500
        table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
        更新時間:2024-12-17
        韓國SEC掃描電子顯微鏡
        sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
        更新時間:2024-12-17
        多面掃描鏡
        可實現(xiàn)大范圍、超高速、高精度與高重復(fù)性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉(zhuǎn)鏡包括電機(jī)與多面鏡,多面鏡具有多個反射面,并安裝在電動機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上。通過電機(jī)的旋轉(zhuǎn),多面鏡可實現(xiàn)高速旋轉(zhuǎn),從而實現(xiàn)大角度、高速的光束掃描。
        更新時間:2024-12-13
        經(jīng)濟(jì)型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
        產(chǎn)品說明: kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點(diǎn)是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡單,是一款性價比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
        更新時間:2024-12-11
        電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
        類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
        更新時間:2024-12-11
        實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
        產(chǎn)品說明: kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上,引用現(xiàn)代最新計算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù), 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外,新增加了各種計算機(jī)自動控制及調(diào)節(jié)功能,尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理,使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
        更新時間:2024-12-11
        日本JEOL 掃描電子顯微鏡JSM-IT510 InTouchScope™
        掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能,用戶可將 sem 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
        更新時間:2024-12-10
        SS-60系列掃描電子顯微鏡
        ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間;放大倍率30 ~60,000 x,15nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;ss-60掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù);國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
        更新時間:2024-12-10
        SS-150系列掃描電鏡
        ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間;放大倍率30~150,000 x ;5nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;通過選配eds可進(jìn)行元素成份分析;ss-150系列掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù);國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
        更新時間:2024-12-10
        臺式掃描電子顯微鏡
        zem15掃描速度快,信號采集帶寬10m,可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作,不需對中光闌等復(fù)雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖。主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng),體積小巧,便于移動,可出差攜帶,安裝無需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電就可工作。
        更新時間:2024-12-10
        FEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標(biāo)準(zhǔn)版
        第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn),適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
        更新時間:2024-12-10
        FEI臺式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
        第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時間:2024-12-10
        飛納(Phenom)臺式掃描電鏡 能譜版
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時間:2024-12-10
        Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
        phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
        更新時間:2024-12-10
        Phenom臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
        放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時ceb6燈絲抽真空時間:10;樣品移動方式:自動馬達(dá)樣品臺樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
        第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
        第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu);诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡 Phenom  Pro
        第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
        飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL
        全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī)
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom Pro
        飛納高分辨率業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中先進(jìn)的產(chǎn)品,第五代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍,分辨率優(yōu)于 8 nm,30 快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓越版
        全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用 的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全 快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
        飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
        更新時間:2024-12-10
        飛納臺式掃描電鏡
        荷蘭飛納公司隆重推出飛納卓越版飛納臺式掃描電鏡 phenom xl
        更新時間:2024-12-10

        最新產(chǎn)品

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