蘇州x射線鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到x射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征x射線,不同的元素有不同的特征x射線;探測器探測到這些特征x射線后,將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理;計算機獨有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的
更新時間:2024-12-23