蘇州x射線鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到x射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征x射線,不同的元素有不同的特征x射線;探測(cè)器探測(cè)到這些特征x射線后,將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào);經(jīng)過(guò)模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)獨(dú)有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過(guò)數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的
更新時(shí)間:2024-12-20