納米壓（劃）痕儀產(chǎn)品及廠家
高溫超納米壓痕測(cè)試儀 (unht3 htv)全球一臺(tái)真正意義的商品化的高溫高真空超納米壓痕儀，主要測(cè)量小載荷下納米尺度機(jī)械性能的測(cè)試系統(tǒng)，溫度在 800 °c 以下的薄膜和涂層的硬度和彈性模量。利 unht3 技術(shù)與獨(dú)特的加熱功能結(jié)合，可提供在任何溫度下的高穩(wěn)定性測(cè)量解決方案。
更新時(shí)間:2024-12-16
用于軟性與生物材料的納米壓痕儀安東帕 生物壓痕測(cè)試儀tm 屬于納米壓痕儀，非常適用于表征人體組織和軟材料的機(jī)械性能。該儀器為研究軟生物材料（如軟組織）而設(shè)計(jì)。依靠生物壓痕儀無與倫比的載荷與位移范圍和出色的分辨率，可以為靈敏地表征軟骨、生物組織、支架、水凝膠或眼部組織的彈性模量、蠕變及其他特性。
更新時(shí)間:2024-12-16
超高精度、高穩(wěn)定納米壓痕測(cè)試儀unht3 高精度超納米壓痕測(cè)試儀采用真實(shí)力傳感器，可用于測(cè)量材料在納米尺度的機(jī)械性能。unht3 采用獨(dú)特的主動(dòng)表面參比利技術(shù)，幾乎消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于所有類型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-12-16
市場(chǎng)功能上多且簡(jiǎn)單易用的納米壓痕測(cè)試儀nht3 /unht3為納米位移測(cè)量提供小載荷，可用于測(cè)試硬度、彈性模量和蠕變等。其范圍涵蓋小載荷 (0.1 mn) 至大載荷 (500 mn)，可在載荷范圍內(nèi)提供大的通用性。由于獨(dú)特的表面參比技術(shù)，無需等待其達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)，立即完成壓痕測(cè)試。全新“快速點(diǎn)陣”壓痕模式可以進(jìn)行一系列快速的測(cè)量（每小時(shí)測(cè)試量高達(dá) 600 個(gè)壓痕）。
更新時(shí)間:2024-12-16
更大的儀器化壓入（iit）測(cè)試范圍根據(jù)儀器化壓入測(cè)試 (iit) 的要求，微米壓痕儀非常適合于對(duì)硬度和彈性模量等機(jī)械性能的測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-12-16
市場(chǎng)上精確的納米劃痕測(cè)試儀主要特點(diǎn)施加較小的載荷時(shí)具有快的響應(yīng)時(shí)間納米劃痕測(cè)試儀帶有載荷傳感器，采用雙懸臂梁用于施加載荷，以及壓電式驅(qū)動(dòng)器用于對(duì)施加的載荷快速響應(yīng)。
更新時(shí)間:2024-12-16
針對(duì)高需求用戶范圍廣泛的的測(cè)試儀主要特點(diǎn)全景成像模式：將所有傳感器進(jìn)行同步，輕松快速地分析涂層結(jié)合力和耐劃傷性能安東帕持有美國(guó)利 8261600 和歐洲利 2065695。全景模式是劃痕儀軟件重要的特征。劃痕后，您可以選擇用選配的自動(dòng)同步的傳感器：聲發(fā)射、位移、載荷和摩擦力傳感器來記錄全景。當(dāng)采用全景成像模式記錄時(shí)，可以隨時(shí)重新分析劃痕。
更新時(shí)間:2024-12-16
獲得利的劃痕技術(shù)revetest® 大載荷劃痕測(cè)試儀是工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)儀器，廣泛用于測(cè)試膜厚度超過 1 μm 的硬質(zhì)涂層的機(jī)械性能。rst3 是用于測(cè)試涂層/基體附著力和表面抗劃 性能的可靠?jī)x器。
更新時(shí)間:2024-12-16
1．用途及特點(diǎn) hg211-ns-5a型（api）中壓濾失儀，采用api標(biāo)準(zhǔn)制造，主要用于測(cè)定鉆井液的濾失量和制取濾失后形成的泥餅。 氣源裝置為打氣筒式。也可選配dg型低壓管匯，以氮?dú)鈿馄孔鳛闅庠础?/div>
更新時(shí)間:2024-12-13
1．用途及特點(diǎn) hg211-sd6a型多聯(lián)（api）中壓濾失儀，是指壓差為0.69mpa的濾失量測(cè)定儀。按（api）標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)。主要用于測(cè)定鉆井液的濾失量和制取濾失后形成的泥餅。
更新時(shí)間:2024-12-13
瀝青混合料壓痕貫入儀用途：測(cè)定一加載圓柱體端頭貫入各種瀝青材料的深度。瀝青混合料壓痕貫入儀產(chǎn)品概述：用于評(píng)定瀝青材料的抗穿透能力。
更新時(shí)間:2024-12-13
imicro納米壓痕儀使測(cè)量硬涂層、薄膜和小體積材料變得容易。這款精確、靈活、用戶友好的儀器可以執(zhí)行各種納米機(jī)械測(cè)試，包括納米壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試。可互換的致動(dòng)器提供了大動(dòng)態(tài)范圍的力和位移，允許研究人員精確和可重復(fù)地測(cè)試從軟聚合物到硬金屬和陶瓷的材料。模塊化選項(xiàng)可以適應(yīng)各種應(yīng)用:材料特性圖、特定頻率測(cè)試、劃痕和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-12-10
伊娜諾®納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得容易。這種精確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行廣泛的納米機(jī)械測(cè)試，包括壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試。力和位移測(cè)量的大動(dòng)態(tài)范圍允許從軟聚合物到金屬的材料被精確和可重復(fù)性地測(cè)試。模塊化選項(xiàng)可以適應(yīng)各種應(yīng)用:材料特性圖、特定頻率測(cè)試、劃痕和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-12-10
科研用cni v4.0是一種非常靈活的納米壓印機(jī)。它可提供加熱型納米壓印、uv紫外納米壓印以及真空納米壓印。模塊化系統(tǒng)可根據(jù)特定需求輕松配置，體積小，容易存放，大可處理210mm(8英寸)圓形的任何尺寸印章和基材。該系統(tǒng)是手動(dòng)裝卸印章和模板，但所有處理器都是全自動(dòng)的，用軟件用戶可以完全控制壓印過程。
更新時(shí)間:2024-12-10
nano indenter® g200系統(tǒng)為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米測(cè)量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)完全可升，可擴(kuò)展且經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的平臺(tái)，全自動(dòng)硬度測(cè)量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
更新時(shí)間:2024-10-18
tencor p-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2d和3d測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。
更新時(shí)間:2024-10-18
imicro納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試等多種納米機(jī)械測(cè)試。 可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移，使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出精確及可重復(fù)的測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-10-18
inano®納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測(cè)試等多種納米機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-10-18
nanoindenter g200x納米力學(xué)測(cè)試平臺(tái)，簡(jiǎn)單易用，能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。g200x系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能，從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品，并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜合全面的納米力學(xué)測(cè)試升選件和解決方案。
更新時(shí)間:2024-10-18
nanoflip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測(cè)試進(jìn)行高精確度的測(cè)量。在掃描電子顯微鏡（sem）和聚焦離子束（fib）系統(tǒng)中，nanoflip在測(cè)試（例如柱壓縮）方面表現(xiàn)優(yōu)異，可以將sem圖像與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)同步。nanoflip測(cè)量迅速，這對(duì)于惰性環(huán)境（例如手套箱）中測(cè)試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件，例如inforce50電磁驅(qū)動(dòng)器，可以提供定量結(jié)
更新時(shí)間:2024-10-18
insem®ht（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度。 insem ht與掃描電子顯微鏡（sem）和聚焦離子束（fib）工作室，或獨(dú)立的真空工作室兼容。 配有的inview軟件可幫助高研究人員開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)。科
更新時(shí)間:2024-10-18
product listall our dwcnt come packed as dry powders, which can be dispersed within the user
更新時(shí)間:2023-10-22
gb4207漏電起痕試驗(yàn)儀特點(diǎn)：試驗(yàn)儀由試驗(yàn)部分和控制部分組成采用一體化設(shè)計(jì)， 方便現(xiàn)場(chǎng)安裝和調(diào)試。 試驗(yàn)箱外殼及結(jié)構(gòu)件采用 s304不銹鋼或黃銅制造；電極頭為不銹鋼，耐高溫耐腐蝕；滴液計(jì)數(shù)準(zhǔn)確，控制
更新時(shí)間:2023-10-17
ftlc漏電起痕試驗(yàn)機(jī) 一、產(chǎn)品介紹： 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)用于電器產(chǎn)品受潮濕和雜質(zhì)環(huán)境的影響下，不同極性的帶電部件之間或帶電部件與接地金屬部件之間可能會(huì)引起絕緣上的漏電
更新時(shí)間:2023-10-02
piuma chiaro和piuma獨(dú)立機(jī)型使用同樣的技術(shù)以及硬件。這意味著兩者的掃描頭部可以互換，在保持其他所有硬件和軟件不變的情況下。chiaro人體組織和軟材料的機(jī)械性能常敏感的探測(cè)壓頭，一個(gè)可以粗進(jìn)以及精進(jìn)的移動(dòng)臺(tái)，通過它可以實(shí)現(xiàn)樣品的自動(dòng)逼近以及非常精確的壓痕。壓頭可以在x-y方向移動(dòng),允許在單個(gè)細(xì)胞上進(jìn)行精密的點(diǎn)陣壓痕來測(cè)量楊氏模量。piuma chiaro可以和任何類型顯微鏡結(jié)合使用
更新時(shí)間:2023-09-07
納米壓痕儀piuma是一個(gè)簡(jiǎn)單易用的革命性產(chǎn)品，piuma nanoindenter壓痕儀為軟物質(zhì)以及生物材料組織的微觀以及納觀研究帶來希望。依靠自身研發(fā)的新型光學(xué)技術(shù)以及杰出的微加工工藝，piuma納米壓痕儀可以測(cè)量楊氏模量軟的樣品，范圍甚至是從5pa到5gpa! piuma同樣非常適合在液體中測(cè)試樣品。其操作非常簡(jiǎn)單易學(xué)，只需將探頭插入儀器中，簡(jiǎn)單定標(biāo)后，即可馬上開始?jí)汉蹖?shí)驗(yàn)。
更新時(shí)間:2023-09-07
納米壓痕儀piuma是一個(gè)簡(jiǎn)單易用的革命性產(chǎn)品，piuma nanoindenter壓痕儀為軟物質(zhì)以及生物材料組織的微觀以及納觀研究帶來希望。依靠自身研發(fā)的新型光學(xué)技術(shù)以及杰出的微加工工藝，piuma納米壓痕儀可以測(cè)量楊氏模量軟的樣品，范圍甚至是從5pa到5gpa! piuma同樣非常適合在液體中測(cè)試樣品。其操作非常簡(jiǎn)單易學(xué)，只需將探頭插入儀器中，簡(jiǎn)單定標(biāo)后，即可馬上開始?jí)汉蹖?shí)驗(yàn)。
更新時(shí)間:2023-09-07
漏電起痕試驗(yàn)儀一、產(chǎn)品型號(hào)：ht-4706-el二、應(yīng)用領(lǐng)域：本產(chǎn)品用于電器產(chǎn)品受潮濕和雜質(zhì)環(huán)境的影響下，不同極性的帶電部件之間或帶電部件與接地金屬部件之間可能會(huì)引起絕緣上的漏電，產(chǎn)生的電弧對(duì)電器造成
更新時(shí)間:2023-08-30
piuma生物納米壓痕儀是功能強(qiáng)大的臺(tái)式儀器，可探索水凝膠、生理組織和生物工程材料的微觀機(jī)械特性。表征尺度從宏觀直至細(xì)胞。為分析測(cè)試軟材料而設(shè)計(jì)，測(cè)量復(fù)雜和不規(guī)則材料在生理?xiàng)l件下的力學(xué)性能。
更新時(shí)間:2023-08-25
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀用途本儀器適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48hz - 62hz）下，用夜體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)環(huán)境條件下使
更新時(shí)間:2023-08-18
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更新時(shí)間:2023-07-12
ic-cpd功能盒漏電起痕試驗(yàn)儀型號(hào)：sun-ld制造單位：深圳陽(yáng)光悅達(dá)科技有限公司一 . 標(biāo)準(zhǔn)：該設(shè)備滿足nb/t 42077-2016 電動(dòng)汽車模式2充電的纜上控制與保護(hù)裝置（ic-cpd） 9.
更新時(shí)間:2023-07-06
納米高壓均質(zhì)機(jī)用途： 可應(yīng)用于二氧化硅，蠟，環(huán)氧，丙烯酸，纖維素，硅酮乳液，潤(rùn)滑劑，tio2油墨，顏料涂料，cnt，碳，bt ,,石墨烯，氧化鋁。乳液，奶油海藻萃取等 各種技術(shù)的剪切率 剪切
更新時(shí)間:2023-06-29
納米壓痕儀(fischerscope, hm2000) 活塞上硬質(zhì)陽(yáng)極涂層的硬度測(cè)定晶圓上的自動(dòng)測(cè)量電鍍涂料拋光顯微切片上的顯微硬度測(cè)定 &
更新時(shí)間:2023-06-29
電性能檢測(cè)儀器：介電強(qiáng)度測(cè)試儀、體積表面電阻率測(cè)試儀、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、漏電起痕試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀；塑料橡膠性能檢測(cè)儀器：無轉(zhuǎn)子硫化儀、門尼粘度試驗(yàn)機(jī)、熱變形維卡溫度測(cè)定儀、簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)、
更新時(shí)間:2023-06-12
astmd3638-92漏電起痕試驗(yàn)儀滴液裝置在兩電及之間的試樣表面應(yīng)被所滴的試驗(yàn)溶液潤(rùn)濕，溶液滴落的時(shí)聞間隔為30s士5s，液演應(yīng)從30 mm～40 mm的高度滿到兩電及間試樣表面的中央。如果采用了
更新時(shí)間:2023-05-01
漏電起痕儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)： iec60112 ： 2003 /gb4207-2003<固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法>， ul746a 、 astm
更新時(shí)間:2023-03-05
jnd2.8qq群3322099-接待3008574353納米壓痕儀 jnd2.8qq群3322099-接待3008574353納米壓痕儀 jnd2.8qq群3322099-接待3008574353納米壓痕儀
更新時(shí)間:2020-09-23
jnd2.0qq群332253納米壓痕儀 jnd2.0qq群332253納米壓痕儀 jnd2.0qq群332253納米壓痕儀
更新時(shí)間:2020-09-13
進(jìn)口aps-100型納米粒度儀比其他粒度儀器更優(yōu)越的是，您無須預(yù)先知道、或猜測(cè)樣品的粒度分布(psd)所依賴的形狀
更新時(shí)間:2020-06-19
進(jìn)口2000型納米粒度儀目前許多粒度儀都采用對(duì)真實(shí)的顆粒分布進(jìn)行估計(jì)的測(cè)量技術(shù)。但實(shí)際上，提供實(shí)際粒度大小的分布本身要遠(yuǎn)比得到平均粒度大小分布要重要。最理想的粒度測(cè)量方法應(yīng)該是速度快，易于操作，而且不僅可測(cè)量平均粒度大小分布，還可提供詳細(xì)的粒度分布；
更新時(shí)間:2020-06-19
可提供各種不同材料、周期、功能的極限尺度光柵，一期產(chǎn)品，采用納米壓印技術(shù)結(jié)合電子束鍍膜、反應(yīng)離子刻蝕等現(xiàn)代微加工技術(shù)制造，光柵周期500~100nm，極限尺寸可<100nm，可用于各類高分辨光譜儀、精密數(shù)控機(jī)床、衛(wèi)星導(dǎo)航和導(dǎo)彈制導(dǎo)等民用、軍事高端領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2020-06-09
ldq-2觸摸屏耐漏電起痕試驗(yàn)儀固體電氣絕緣材料在電場(chǎng)作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時(shí)的相對(duì)耐電痕化性能。當(dāng)將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時(shí)間間隔滴到兩電極之間時(shí)，在此試驗(yàn)情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時(shí)，不發(fā)生電痕化。當(dāng)材料在最高試驗(yàn)電壓下也未電痕時(shí)，可以有不同程度的腐蝕，且腐蝕深度能測(cè)出。某些材料能在試驗(yàn)時(shí)燃燒。
更新時(shí)間:2020-05-14
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液相色譜儀
氣相色譜儀
原子熒光光譜儀
可見分光光度計(jì)
液質(zhì)聯(lián)用儀
壓力試驗(yàn)機(jī)
酸度計(jì)（PH計(jì)）
離心機(jī)
高速離心機(jī)
冷凍離心機(jī)
生物顯微鏡
金相顯微鏡
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
生物試劑
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