表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
采用高精度恒流恒壓源，自動量程，無需手動調節(jié)和設定。大液晶屏幕顯示，所有測試數(shù)據(jù)和設定數(shù)據(jù)均可顯示，當選擇經(jīng)濟型手動測量裝置匹配時能直觀的查看數(shù)據(jù)；如果在條件許可下可以選擇自動測量裝置將獲得更高精確的重復性數(shù)據(jù)和消除操作誤差帶來的不確定性。
更新時間:2024-12-11
隔熱導電膜四探針電阻率測試儀，本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測超高阻。
更新時間:2024-12-11
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規(guī)范.
更新時間:2024-12-11
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2024-12-11
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
更新時間:2024-12-11
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2024-12-11
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2024-12-11
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2024-12-11
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2024-12-11
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結構測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時間:2024-12-11
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2024-12-11
本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值，選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2024-12-11
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
直流恒流源輸出系統(tǒng)結合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測試量程；各類參數(shù)和功能設定通過薄膜面板實現(xiàn)，人性化設計符合人體工學原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元。
更新時間:2024-12-11
金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程,適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試,電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
更新時間:2024-12-11
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2024-12-11
lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測儀該儀器適用于測量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降,從而判斷接線口優(yōu)劣,也可檢查插頭線在完成標準規(guī)定的彎曲試驗次數(shù)后的斷線情況。該儀器同時適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產(chǎn)品之電壓降測試本儀器有可調的大電流輸出,微電壓測試,數(shù)碼管顯示。滿足標準：sae/uscar38 2009
更新時間:2024-12-11
鋰電池粉末電阻率測試儀 采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定.
更新時間:2024-12-11
四探針粉末電阻率測試,粉末電阻儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2024-12-11
ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀 粉末電阻率測試儀 一、功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2024-12-11
ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；
更新時間:2024-12-11
電線電阻率測試儀 測量金屬材料體積電阻率和質量電阻率時，可以測量全規(guī)格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢、硅合金線的電阻率。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表.電纜電阻率測量儀 電線電阻率測試儀 電纜電阻率測量儀
更新時間:2024-12-11
材料電導性能測試儀,自動電阻率測試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測試儀一.本儀器采用四端測量方式，測試材料超低電阻、電阻率和高導電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩(wěn)定度和準確性高；有手動和自動設定模式；并根據(jù)測試產(chǎn)品特性自動轉換測試量程，無需手動調節(jié)和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率、電導率、電
更新時間:2024-12-11
ft-300a1導體材料電阻率測試儀 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規(guī)范.
更新時間:2024-12-11
ft-300a2通用型材料電阻率測試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2024-12-11
ft-301多功能粉末電阻率測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測試儀優(yōu)勢：1.本機自帶軟件由電腦自動控制儀器工作
更新時間:2024-12-11
上海四探針方塊電阻測試儀 、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求 上海四探針方塊電阻測試儀
更新時間:2024-12-11
四探針方阻測試儀操作方法 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針 ft-332四探針 四點探針 四探針測試儀
更新時間:2024-12-11
數(shù)字式四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
自動導體粉末電阻率測試儀采用一體化結構設計，將粉末比電阻的測量與粉體電阻率/電導率分析為一體，測量與數(shù)據(jù)分析通過pc軟件完成，粉體壓強與電阻值、電阻率、電導率值的變化關系
更新時間:2024-12-11
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2024-12-11
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2024-12-11
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
更新時間:2024-12-11
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規(guī)范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2024-12-11
經(jīng)濟型表面電阻和體積電阻測試儀 適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2024-12-11
ft-310炭素材料電阻率測試儀四端測試法測量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動顯示電流和電壓并根據(jù)測試產(chǎn)品特性自動轉換測試量程，無需手動調節(jié)和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測試數(shù)據(jù)之圖表和測試結果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測試治具.
更新時間:2024-12-11
ft-336型四探針電阻率測試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2024-12-11
智能炭塊電阻率測定儀，采用步進定位90度或120度旋轉測量系統(tǒng),壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數(shù)據(jù),可編輯報表生成,自動分析均值,偏差值等數(shù)據(jù). 一體化設計結構.人性化模塊操作界面.
更新時間:2024-12-11
四點探針測試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國a.s.t.m 標準。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測試平臺參照gbt308
更新時間:2024-12-11
金屬涂層表面電阻（方阻）測試儀適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層。
更新時間:2024-12-11
雙電四探針粉末電阻率測試儀（智能型）使用說明， 全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內聚力反彈形變或恢復過程變化曲線圖譜；自動測試過程數(shù)據(jù)曲線及圖譜分析，實時分析壓強/壓力與電阻。
更新時間:2024-12-11
參照標準basis：gb4066.1-2004干粉滅火劑通用技術條件之電絕緣性要求用于檢測干粉滅火劑之電絕緣性
更新時間:2024-12-11
絕緣材料表面/體積電阻率測試儀詳情介紹絕緣材料表面/體積電阻率測試儀是測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、靜電產(chǎn)品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計算機房靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2024-12-11
ft-303b型表面電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2024-12-11
電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2024-12-11
四探針法粉末電導率測試儀，已知量的粉體，在液壓動力下壓縮體積至設定壓力值或壓強，在線測量粉體電阻、電阻率、電導率，并記錄數(shù)據(jù).解決粉體難壓片成型或壓片取出測量誤差.
更新時間:2024-12-11
最新產(chǎn)品
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