表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
本儀器用于測(cè)定各種已經(jīng)或未經(jīng)抗水或拒水整理織物表面的抗?jié)裥裕ㄕ此燃?jí)）。gb/t4745-1997 《紡織織物 表面抗?jié)裥詼y(cè)定 沾水試驗(yàn)》
更新時(shí)間:2024-12-13
dt304-353便攜式阻抗測(cè)試儀具有易于攜帶、操作簡(jiǎn)便、測(cè)量迅速、顯示結(jié)果直觀等特點(diǎn)。供電采用直流供電，內(nèi)置充電電池，用于現(xiàn)場(chǎng)無(wú)電源情況下使用，滿電狀態(tài)下可以連續(xù)測(cè)量10小時(shí)。
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便攜式電阻儀 表面電阻測(cè)試儀該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀，規(guī)格為103 歐姆/米2 ～1012 歐姆/米2 ，精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。
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干擾測(cè)量阻抗匹配器 干擾測(cè)量阻抗匹配儀 干擾測(cè)量阻抗匹分析儀dt307-zn28200干擾測(cè)量阻抗匹配器專門用于高壓電器設(shè)備無(wú)線電干擾測(cè)量，在進(jìn)行測(cè)量試驗(yàn)時(shí)
更新時(shí)間:2024-12-13
每輪實(shí)驗(yàn)時(shí)間可縮短到6—8個(gè)小時(shí)，僅為靜態(tài)法的1/4—1/3
更新時(shí)間:2024-12-13
測(cè)量電纜、固體、液體緣材料的電容值和介質(zhì)損耗值。
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該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀，規(guī)格為103歐姆/米2～1012歐姆/米 2 ，精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。在測(cè)量表面電阻的時(shí)候，只要把儀器放在測(cè)量物表面，按下紅色測(cè)試按鈕就可以了。隨后儀器便會(huì)亮起103歐姆/米2 ～1012歐姆/米2范圍內(nèi)相應(yīng)的燈或緣顯示。在測(cè)量接地電阻的時(shí)候，重復(fù)上述過(guò)程，同時(shí)將接地插頭插入連接接地點(diǎn)的插座中即可。
更新時(shí)間:2024-12-13
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治
更新時(shí)間:2024-12-11
粉末電阻率測(cè)試儀 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試
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塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，概況：(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》
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瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦
更新時(shí)間:2024-12-11
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造，用來(lái)測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率，四端法測(cè)試原理，通過(guò)測(cè)試裝置能夠滿足不同線徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。
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系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí)，粉體空隙率非常小，壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài)，則此時(shí)測(cè)試出來(lái)的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
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ft-333方阻測(cè)試儀 gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?ft-333方阻測(cè)試儀
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四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀 顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
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硅材料測(cè)試儀-四探針?lè)y(cè)試臺(tái) 探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.硅材料測(cè)試儀-四探針?lè)y(cè)試臺(tái)
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四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)四探針電阻率測(cè)試儀 恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便 ft-336四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀
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ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀 利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
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ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀 質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀
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ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針測(cè)試儀檢測(cè)范圍， 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu). 四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀）材料的電阻和電阻率 粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣粉末電阻率測(cè)試儀， 電路結(jié)構(gòu)采用集成電路及高精度芯片控制系統(tǒng)，滿足測(cè)試數(shù)據(jù)的高效采集和數(shù)據(jù)的讀取.自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換 絕緣粉末電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng) ，爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 usb通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù) ft-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針電導(dǎo)率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)， 比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確 四探針電阻率儀
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針探頭批,發(fā)四探針臺(tái) ， 采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時(shí)間:2024-12-11
智能型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀，采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時(shí)間:2024-12-11
lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強(qiáng)電流電路和弱電流電路下電性能評(píng)定指標(biāo)；在恒定電流狀態(tài)下，通過(guò)測(cè)試導(dǎo)線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降，還可以獲得接觸電阻數(shù)據(jù)；如果通過(guò)模擬環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試后的汽車用插接器再進(jìn)行電壓降測(cè)試，數(shù)據(jù)能更真實(shí)反映產(chǎn)品本身的特性；適用于科研院所、企業(yè)研發(fā)、進(jìn)料檢驗(yàn)和質(zhì)量中心等技術(shù)部門提供更加精準(zhǔn)和可靠的數(shù)據(jù)保證 lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-12-11
電線束插接器壓降測(cè)試系統(tǒng)批發(fā),通過(guò)電流、電壓和時(shí)間，來(lái)檢測(cè)電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關(guān)系，是汽車用插接器的主要電氣性能指標(biāo)，它直接影響汽車各電氣設(shè)備的信號(hào)傳輸和電氣連接，以及電氣設(shè)備的工作穩(wěn)定性和可靠性；不良的接觸電阻和壓降是汽車用插接器工作時(shí)產(chǎn)生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升，從而提高插接器壽命和性能.
更新時(shí)間:2024-12-11
端子壓降測(cè)試系統(tǒng),電線束壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)采用集成電路及高精度芯片控制，通過(guò)測(cè)量接觸電阻、電壓降及溫升等數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)電線束插接器的電性能，恒流源供給更加穩(wěn)定的輸出，大液晶顯示屏幕更加直觀，各類參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn)，人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元，配置pc軟件可以獲得更多過(guò)程數(shù)據(jù)，測(cè)試報(bào)表處理、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)分析有助于產(chǎn)
更新時(shí)間:2024-12-11
采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。大液晶屏幕顯示，所有測(cè)試數(shù)據(jù)和設(shè)定數(shù)據(jù)均可顯示，當(dāng)選擇經(jīng)濟(jì)型手動(dòng)測(cè)量裝置匹配時(shí)能直觀的查看數(shù)據(jù)；如果在條件許可下可以選擇自動(dòng)測(cè)量裝置將獲得更高精確的重復(fù)性數(shù)據(jù)和消除操作誤差帶來(lái)的不確定性。
更新時(shí)間:2024-12-11
隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀，本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測(cè)超高阻。
更新時(shí)間:2024-12-11
本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2024-12-11
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2024-12-11
材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2024-12-11
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針?lè)阶鑳x按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2024-12-11
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2024-12-11
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時(shí)間:2024-12-11
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
更新時(shí)間:2024-12-11
本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值，選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
更新時(shí)間:2024-12-11
液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測(cè)試量程；各類參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn)，人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元。
更新時(shí)間:2024-12-11
金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
更新時(shí)間:2024-12-11
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