| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EX3 |
| 測(cè)量方式 | 自動(dòng)測(cè)量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | 半導(dǎo)體激光器，波長(zhǎng)635nm |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進(jìn)角 | 0.014° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm |
| 配套軟件 | * 用戶(hù)權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | （入射角度70°時(shí)）450*375*260mm |
| 儀器重量（凈重） | 15Kg |
北京海創(chuàng)玻璃厚度儀
玻璃厚度儀
玻璃厚度儀專(zhuān)用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
1．激光反射原理，單側(cè)測(cè)量；2．中空玻璃，同時(shí)測(cè)空氣夾層厚度和玻璃厚度；3．量程大:玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm；4．操作簡(jiǎn)單方便，測(cè)量快速，輕巧便攜，節(jié)能環(huán)保等特點(diǎn)；5．適用于質(zhì)量檢測(cè)、監(jiān)理、教學(xué)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、工程施工等場(chǎng)合。
1.1: 外形尺寸 長(zhǎng)160mm × 寬 55mm × 高25mm1.2: 儀器重量 250克1.3: 電池為標(biāo)準(zhǔn)2032紐扣電池1.4：測(cè)量精度 ± 0.5mm1.5：量程: 玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm。
福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶(hù)青睞
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: ETSys-Map-PV是針對(duì)高端薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對(duì)1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽(yáng)電池樣品進(jìn)行在線檢測(cè)？蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。可測(cè)量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽(yáng)能電池領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，性能卓越。特點(diǎn):大面積絨面樣品上全表面測(cè)量可對(duì)大面積絨面薄膜太陽(yáng)電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì)進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)。微米量級(jí)的全面積掃描精度先進(jìn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能夠使探頭到達(dá)樣品上每個(gè)點(diǎn)，掃描精度達(dá)到微米量級(jí)。原子層量級(jí)的膜厚分析精度采用非接觸、無(wú)破壞性的橢偏測(cè)量技術(shù)，對(duì)納米薄膜達(dá)到極高的測(cè)量準(zhǔn)確度和靈敏度，膜厚測(cè)量靈敏度可達(dá)到0.05nm。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作用戶(hù)只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫(kù)、材料庫(kù)方便用戶(hù)進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制。 ETSys-Map-PV可用于測(cè)量大面積的薄膜太陽(yáng)電池樣品上單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可應(yīng)用于：大面積薄膜太陽(yáng)電池基底的材料測(cè)量薄膜太陽(yáng)電池玻璃基底上透明導(dǎo)電氧化物（TCO）鍍膜測(cè)量 技術(shù)指標(biāo): 項(xiàng)目 技術(shù)指標(biāo) ![]()
【福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶(hù)青睞一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢(xún) 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶(hù)青睞多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200089EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀![]()
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200089.htmlEX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀型號(hào):JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀![]()
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福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶(hù)青睞多種型號(hào)圖片
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EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱(chēng)“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶(hù)使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶(hù)使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用。可擴(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專(zhuān)業(yè)的儀器使用培訓(xùn)專(zhuān)業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程
EM12是采用量拓科技先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，針對(duì)中端精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。 EM12可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量？捎糜跍y(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的厚度測(cè)量。 EM12采用了量拓科技多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)。特點(diǎn)：次納米量級(jí)的高靈敏度國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測(cè)量極薄納米薄膜，膜厚精度可達(dá)到0.2nm。1.6秒的快速測(cè)量國(guó)際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可對(duì)納米膜層生長(zhǎng)過(guò)程進(jìn)行測(cè)量。簡(jiǎn)單方便的儀器操作用戶(hù)只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫(kù)、材料庫(kù)方便用戶(hù)進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用：EM12適合于中端精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制。EM12可用于測(cè)量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；可用于實(shí)時(shí)測(cè)量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。EM12可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等？蓱(yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。技術(shù)指標(biāo):
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EM12 |
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.2nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測(cè)量重復(fù)性（1） | 2x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 與測(cè)量設(shè)置相關(guān)，典型1.6s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達(dá)4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° 樣品對(duì)準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí)) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái) 真空吸附泵 |
| 軟件 | ETEM軟件： l 中英文界面可選； l 多個(gè)預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用； l 單角度測(cè)量/多角度測(cè)量操作和數(shù)據(jù)擬合； l 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出 l 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫(kù)支持 |
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。
性能保證:- 穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法，保證了高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度
- 高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)
- 穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量
- 分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量
- 一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間
- 一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù)，方便用戶(hù)使用
- 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
ETSys-Map-PV是針對(duì)高端薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對(duì)1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽(yáng)電池樣品進(jìn)行在線檢測(cè)？蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k？蓽y(cè)量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽(yáng)能電池領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，性能卓越。特點(diǎn):大面積絨面樣品上全表面測(cè)量可對(duì)大面積絨面薄膜太陽(yáng)電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì)進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)。微米量級(jí)的全面積掃描精度先進(jìn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能夠使探頭到達(dá)樣品上每個(gè)點(diǎn)，掃描精度達(dá)到微米量級(jí)。原子層量級(jí)的膜厚分析精度采用非接觸、無(wú)破壞性的橢偏測(cè)量技術(shù)，對(duì)納米薄膜達(dá)到極高的測(cè)量準(zhǔn)確度和靈敏度，膜厚測(cè)量靈敏度可達(dá)到0.05nm。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作用戶(hù)只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫(kù)、材料庫(kù)方便用戶(hù)進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制。 ETSys-Map-PV可用于測(cè)量大面積的薄膜太陽(yáng)電池樣品上單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可應(yīng)用于：大面積薄膜太陽(yáng)電池基底的材料測(cè)量薄膜太陽(yáng)電池玻璃基底上透明導(dǎo)電氧化物（TCO）鍍膜測(cè)量 技術(shù)指標(biāo):
注：（1）測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù)，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量一體化集成式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù)，方便用戶(hù)使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 系統(tǒng)型號(hào) | ETSys-Map-PV |
| 結(jié)構(gòu)類(lèi)型 | 在線式 |
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.05nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率n精度（1） | 5x10-4 (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 結(jié)構(gòu) | PSCA |
| 激光光束直徑 | ~1 mm |
| 入射角度 | 60°-75°可選 |
| 樣品放置 | 放置方式：水平 運(yùn)動(dòng)：X軸單方向運(yùn)動(dòng) 運(yùn)動(dòng)范圍：>1.4m 三維平移調(diào)節(jié) 二維俯仰調(diào)節(jié) 可對(duì)樣品進(jìn)行掃描測(cè)量 |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 1.4m*1.1m，并可定制。 |
| 測(cè)量速度 | 典型0.6s-4s /點(diǎn)（取決于樣品種類(lèi)及測(cè)量設(shè)置） |
| 的膜層厚度測(cè)量范圍 | 光滑平面樣品：透明薄膜可達(dá)4000nm，吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 選配件 | 樣品監(jiān)視系統(tǒng) 自動(dòng)樣品上片系統(tǒng) |
| 型號(hào):JX200089EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 | 型號(hào):JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀 | 型號(hào):JX200092ETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng) |
YG141P型全自動(dòng)土工布厚度儀
【適用范圍】：用于土工合成材料和相關(guān)產(chǎn)品在不同壓力及規(guī)定時(shí)間下的厚度的測(cè)定。【符合標(biāo)準(zhǔn)】：JTG E50、ISO 9863、GB/T 13761【產(chǎn)品特點(diǎn)】：1.微機(jī)控制，超大觸摸屏幕控制界面，測(cè)試過(guò)程動(dòng)態(tài)顯示。 2.采用進(jìn)口傳感器測(cè)量，精度高達(dá)萬(wàn)分之二，無(wú)人工誤差。3.測(cè)試壓力參數(shù)2KPa，20KPa，200KPa等任意設(shè)置。4.測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差.5.實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值等分析數(shù)據(jù)，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷6.具有電腦接口以及打印機(jī)接口，具有單點(diǎn)測(cè)量以及多點(diǎn)測(cè)量方式可選。7.際高專(zhuān)利產(chǎn)品，國(guó)內(nèi)唯一一款全自動(dòng)，智能型厚度測(cè)試儀。【技術(shù)參數(shù)】：1、壓腳面積：25cm (圓形直徑：Ф56.42mm)或選配其他面積2、穩(wěn)壓時(shí)間：10S 20S，30S，40S，50S或其他時(shí)間任意設(shè)置3、測(cè)試壓力：2±0.01KPa；20±0.1KPa；200±0.1KPa以及其他壓力4、測(cè)試厚度：0-50mm5、傳感器量程： 500N6、精度：≤±0.02%F.S 7、數(shù)據(jù)輸出：聯(lián)機(jī)控制，打印輸出，編輯保存 8、分辨率：0.001mm9、測(cè)量方式：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量和多點(diǎn)測(cè)量任意選擇10、電源電壓： AC220V±10% 功率：100W11、外形尺寸：360mm*500mm*700mm12 、重量：約45KG
該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
羽絨羽毛類(lèi)檢測(cè)儀器
染整服裝類(lèi)檢測(cè)儀器
磨損厚度類(lèi)
水力性能類(lèi)儀器
力學(xué)性能類(lèi)儀器
土工檢測(cè)類(lèi)檢測(cè)儀器
疲勞強(qiáng)力試驗(yàn)機(jī)
彈子頂破強(qiáng)力機(jī)
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
撕破強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
漲破強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
纖維紗線強(qiáng)力機(jī)
電子織物強(qiáng)力機(jī)
織物面料類(lèi)檢測(cè)儀器
力學(xué)性能類(lèi)測(cè)試儀器
FG03-YG141D數(shù)字式織物厚度儀
數(shù)字式織物厚度儀
| 用于各種機(jī)織物、針織物和土工布的厚度測(cè)定。 適用標(biāo)準(zhǔn)：ISO5048 9073 9863
|  |
 |
| 測(cè)定厚度范圍: | 0.01~10mm |
| 最小分度值: | 0.01mm |
| 壓腳直徑: | Φ7.98、Φ11.28、Φ25.22、Φ35.68、Φ50.48mm五檔 |
| 壓重砝碼: | 25CN、50CN、100cN、200cN |
| 壓重時(shí)間: | 10S、30S |
| 外形尺寸: | 410×160×300mm(L×W×H) |
| 重量: | 25kg |
| 電源: | AC220V 50Hz |
H51非金屬板厚度測(cè)試儀，樓板測(cè)厚度儀
H51非金屬板厚度測(cè)試儀，樓板測(cè)厚度儀產(chǎn)品特性：非金版屬測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：H51 非金屬板厚度測(cè)試儀（又稱(chēng)樓板儀）用來(lái)自動(dòng)測(cè)量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測(cè)量、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測(cè)量精確的智能化厚度測(cè)量?jī)x
H51 非金屬板厚度測(cè)試儀（又稱(chēng)樓板儀）用來(lái)自動(dòng)測(cè)量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測(cè)量、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測(cè)量精確的智能化厚度測(cè)量?jī)x。
技術(shù)指標(biāo)厚度測(cè)量范圍 ：40mm～800mm 示值最大誤差 ：40 ～ 600mm ±1mm 601～800mm ±2mm數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量 ：3.2萬(wàn)組測(cè)點(diǎn)工作環(huán)境要求 環(huán)境溫度：-10℃～＋40℃ 相對(duì)濕度：<90%RH電磁干擾：無(wú)強(qiáng)交變電磁場(chǎng) 不得長(zhǎng)時(shí)間陽(yáng)光直射6節(jié)5號(hào)堿性電池，供電時(shí)間大于30小時(shí)。 依據(jù)規(guī)范中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《混凝土結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》GB50204-2002
性能特點(diǎn)測(cè)試距離大。測(cè)試距離高達(dá)800mm，測(cè)試精度優(yōu)于其他同類(lèi)產(chǎn)品。實(shí)時(shí)顯示測(cè)量信息。自動(dòng)的判讀并鎖定樓板的厚度值，無(wú)需人工參與，大大提高了測(cè)試精度。儀器測(cè)試速度快。我公司采用高速處理平臺(tái)，對(duì)樓板厚度的判定速度快。探頭的使用壽命長(zhǎng)。我公司樓板儀探頭底面采用高質(zhì)量耐磨層，大大的提高了探頭和儀器的使用壽命。保存測(cè)試日期。方便用戶(hù)的數(shù)據(jù)管理。便攜的萬(wàn)向延長(zhǎng)桿。采用可伸縮式延長(zhǎng)桿、萬(wàn)向節(jié)設(shè)計(jì)，現(xiàn)場(chǎng)使用非常的方便。功能強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)的windows數(shù)據(jù)分析處理軟件。可以圖形的方式表示測(cè)試結(jié)果，可以直接生成Word檢測(cè)報(bào)告，方便快捷。
該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
執(zhí)法記錄儀
視得樂(lè)
蔡司
望遠(yuǎn)鏡
激光測(cè)距儀
硬度計(jì)
普利賽斯APRESYS
圖雅得Trueyard
徠卡 LEICA測(cè)距望遠(yuǎn)鏡
里奧波特Leupold
紐 康NEWCON
鐳仕奇Rasger
奧卡OPTi－LOGIC
尼康測(cè)距望遠(yuǎn)鏡
博士能Bushnell測(cè)距望遠(yuǎn)鏡
測(cè)距望遠(yuǎn)鏡
長(zhǎng)距離激光測(cè)距傳感器
中長(zhǎng)距離激光測(cè)距傳感器
近距離激光測(cè)距傳感器
線纜測(cè)高儀高壓無(wú)線核相儀
土工布厚度儀，供應(yīng)土工布厚度儀
| 詳細(xì)說(shuō)明: |
| 土工布厚度儀適用范圍：用于土工布合成材料在不同的壓力和規(guī)定的受壓時(shí)間，測(cè)試其厚度。 土工布厚度儀符合標(biāo)準(zhǔn)：JTJ/T060-98《公路土工合成材料試驗(yàn)規(guī)程》 技術(shù)參數(shù)： 壓腳面積：25cm2（壓腳直徑：Ф56.42mm） 壓腳重量5N（自重：510.2g四只） 二次壓重20kPa±0.1kPa（壓腳加壓桿：509.8g） 三次壓重200kPa±1kPa（壓腳加法碼：5098.5g） （電子式）百分表：0～24mm 最小分度值：0.01mm （機(jī)械式）千分表：0～1mm 最小分度值：0.001mm （電子式）秒表 最小分度值：0.1S |
該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
巖石檢測(cè)儀器系列
隔墻板測(cè)試儀器
瀝青混凝土系列
試驗(yàn)機(jī)系列
粗粒土水利水電測(cè)試儀器系列
塑料波紋管測(cè)試儀器系列
開(kāi)關(guān)插座測(cè)試儀器系列
防水材料測(cè)試儀器系列
安全網(wǎng)安全帽檢測(cè)儀器系列
陶瓷磚測(cè)試儀器系列
橋梁密封膠測(cè)試儀器
塑料檢查井測(cè)試儀器
土工合成材料水平滲透儀
土工布排水板通水儀
土工合成材料蠕變系統(tǒng)
電動(dòng)數(shù)顯土工布厚度儀
土工布厚度儀
土工合成材料直剪拉拔摩擦系統(tǒng)
土工合成材料直剪儀
土工合成材料拉拔儀
LS-3葉片厚度儀 LS-3植物葉片厚度測(cè)量?jī)x
名 稱(chēng):葉片厚度儀
型 號(hào)：LS-3
品 牌：綠博
產(chǎn) 地：浙江
優(yōu)惠價(jià)格：1200元
LS-3葉片厚度儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
葉片是植物最重要的器官，其形態(tài)變化可以反映出植物生長(zhǎng)狀態(tài)的變化，如光合作用、水分情況、養(yǎng)分情況等。研究表明，葉片厚度變化具有周期規(guī)律性，可分為長(zhǎng)周期和短周期（24小時(shí)）。掌握這些規(guī)律對(duì)研究植物水分狀態(tài)具有重要意義。
通常的灌溉系統(tǒng)是以空氣的溫度、濕度以及土壤的濕度作為控制參數(shù)，屬于開(kāi)環(huán)控制。針對(duì)這一問(wèn)題，提出了以植物的器官(葉片、莖桿、果實(shí))的幾何參數(shù)為控制參數(shù)的智能節(jié)水灌溉控制系統(tǒng)，屬于閉環(huán)控制。
LS-3葉片厚度儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：0－－10mm
分 辨 率：0.01mm
精 度：0.015mm
接觸面積：Φ10mm
讀取裝置：指針
如需了解更多詳情請(qǐng)聯(lián)系廣州航信科學(xué)儀器有限公司，來(lái)電價(jià)格有優(yōu)惠
該產(chǎn)品本公司免費(fèi)承擔(dān)至全國(guó)各地（僅限物流公司可到達(dá)網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)）的運(yùn)輸費(fèi)用，不含送貨上門(mén)；如需送貨上門(mén)，根據(jù)貴單位所在具體地址另行收費(fèi)，偏遠(yuǎn)地區(qū)請(qǐng)先至電。本公司銷(xiāo)售產(chǎn)品保修一年，終身維護(hù)。
YG141織物厚度儀
產(chǎn)品信息 型號(hào)： YG141N用途：用于各種機(jī)織物、針織物和非織布的厚度測(cè)定。適用標(biāo)準(zhǔn) ：GB/T3820-1997, FZ/T60004, ISO5084, 9073等。主要技術(shù)指標(biāo):
型 號(hào) | YG141N |
測(cè)定厚度范圍 | 0.01-10mm, LCD |
最小分度值 | 0.01mm |
壓腳面積 | 100,2000,2500,10000(mm2) |
壓重砝碼 | 50CN(二只),100CN(二只),200CN(一只) |
壓重時(shí)間 | 10S,30S |
重 量 | 30kg |
外形尺寸 | 210x450x310mm |
電 源 | AC220V±10% 50Hz |
26系列腐蝕厚度儀
26系列超聲波測(cè)厚儀包括26MG,26MG-XT和26XTDL,操作簡(jiǎn)單,是測(cè)量腐蝕金屬理想的便攜式測(cè)厚儀。測(cè)厚儀使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度。有多種探頭可選。可對(duì)厚度在0.5mm--500mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進(jìn)行測(cè)量。 26MG基本型測(cè)厚儀的將操作簡(jiǎn)單,價(jià)格低廉和功能齊全三大優(yōu)點(diǎn)融為一體. 并具有快速最小捕捉模式和凍結(jié)模式.兩節(jié)AA5# 電池可工作250小時(shí). 26MG-XT 包括26MG所有功能, 附加增益閘門(mén),自動(dòng)靈敏度優(yōu)化和高低報(bào)警功能. 26XTDL 將26MG-XT的特征和數(shù)據(jù)采集功能相結(jié)合,配有RS-232數(shù)據(jù)輸出接口,可與計(jì)算機(jī)或打印機(jī)連接。內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器用來(lái)記錄厚度讀數(shù),能保存約8000個(gè)測(cè)量厚度值。 技術(shù)規(guī)格26MG26MG－XT26XTDL顯 示 屏液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 測(cè)量范圍0.5---500mm0.5---500mm0.5---500mm頻率范圍1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 聲速范圍0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 顯示精度0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 存儲(chǔ)裝置無(wú) 無(wú) 8000組厚度值波形顯示無(wú) 無(wú) 無(wú) RF顯示無(wú) 無(wú) 無(wú) 增益閘門(mén)無(wú) 高/低任選 高/低任選 回波回波測(cè)量無(wú) 無(wú) 無(wú) 差分測(cè)量無(wú) 有 有 高低報(bào)警無(wú) 有 有 自動(dòng)關(guān)機(jī)有 有 有 背光自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 掃描速度2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn) 20點(diǎn)/快速 2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn)20點(diǎn)/快速 2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn)20點(diǎn)/快速 工作溫度-10-50℃ -10-50℃ -10-50℃ 測(cè)量溫度-20-500℃ -20-500℃ -20-500℃ 探頭種類(lèi)雙晶/自動(dòng)識(shí)別 雙晶/自動(dòng)識(shí)別雙晶/自動(dòng)識(shí)別RS232接口選件 選件 有 電 池AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) 充 電 器無(wú) 無(wú) 無(wú) 外型尺寸64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 重 量0.24Kg 0.24Kg 0.24Kg
最新產(chǎn)品
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