◆易暢YT260涂鍍層測(cè)厚儀（防腐層測(cè)厚儀）【使用方法】儀器裝上電池后，按下“ON/OFF”按鍵開機(jī)，等蜂鳴聲響后，液晶顯示屏上顯示"0"時(shí)，儀器自動(dòng)進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，直接將測(cè)頭垂直并快速緊壓到工件表面的涂鍍層上，儀器通過測(cè)頭自動(dòng)測(cè)量出涂層厚度，并通過顯示屏把厚度值顯示出來（注意：測(cè)量時(shí)注意測(cè)頭保持垂直）
◆易暢YT260涂鍍層測(cè)厚儀（防腐層測(cè)厚儀）【簡介】DR260涂鍍層測(cè)厚儀是一款專業(yè)測(cè)量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業(yè)無損檢測(cè)儀器。采用磁性測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、錮、琺瑯、橡膠、粉未、油漆、電泳、搪瓷、防腐層，涂料等）
◆易暢YT260涂鍍層測(cè)厚儀（防腐層測(cè)厚儀）【特點(diǎn)】◇操作簡單，測(cè)試速度快，靈敏度好，測(cè)量精度高◇連接電腦進(jìn)行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打。ㄟm用U型主機(jī)）◇可采用兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)◇操作過程有蜂鳴聲標(biāo)示（單次測(cè)量方式）◇具有兩種測(cè)試方式：連續(xù)（CONT INUE）和單次（SINGLE）測(cè)量方式◇設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測(cè)量次數(shù)（No）◇大容量存儲(chǔ)，可存貯800多個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)◇自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基底材◇公英制轉(zhuǎn)換μm/Mil◇背光顯示模式，低電壓指示◇手動(dòng)/自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
◆易暢YT260涂層測(cè)厚儀（防腐層測(cè)厚儀）【技術(shù)參數(shù)】◇測(cè)量范圍：0-1250/3000μm（超過1250μm要提前告知廠家另行定制）◇使用環(huán)境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場環(huán)境下使用◇最小基體面積10*10mm◇最小曲率：凸5mm;凹5mm◇基體臨界厚度：0.5mm◇最薄基體：0.4mm◇測(cè)量精度：±（1%-3%）H+1.5μm◇分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）◇外形尺寸：130mm*70mm*24mm◇重量：100g◇電源：三節(jié)（7號(hào)）堿性電池
◆易暢YT260涂鍍層測(cè)厚儀（防腐層測(cè)厚儀）出廠清單：
●YT260（標(biāo)準(zhǔn)配置）◇主機(jī)◇標(biāo)準(zhǔn)片◇基體 鐵基體一塊◇電池◇說明書◇合格證◇清潔布◇通訊數(shù)據(jù)線 適用于U型主機(jī)（選配）◇軟件 適用于U型主機(jī)（選配）
| MCH系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。 本儀器采用磁性測(cè)厚法，方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻鍍層，或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑，瀝青等涂層的厚度，該儀器廣泛用于機(jī)械、汽車、造船，石油、化工、電鍍、噴涂、搪瓷等行業(yè)。是鐵磁材料保護(hù)層質(zhì)量檢測(cè)的必備工具。
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把測(cè)厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時(shí)外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測(cè)量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測(cè)量范圍。根據(jù)儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計(jì)算出膜層的平均值。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格，請(qǐng)用同樣的方法重復(fù)測(cè)量至少2次，以減少誤差。測(cè)量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測(cè)厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時(shí)外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測(cè)量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測(cè)量范圍。根據(jù)儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計(jì)算出膜層的平均值。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格，請(qǐng)用同樣的方法重復(fù)測(cè)量至少2次，以減少誤差。測(cè)量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測(cè)厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時(shí)外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測(cè)量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測(cè)量范圍。根據(jù)儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計(jì)算出膜層的平均值。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格，請(qǐng)用同樣的方法重復(fù)測(cè)量至少2次，以減少誤差。測(cè)量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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把測(cè)厚儀的表面迅速地壓入精制的膜層上，此時(shí)外部鋸齒恰好卡在基體上。然后移開儀器。必須選擇測(cè)量的范圍，所以一部分鋸齒是濕的，另一部分是干的 。選擇另外的合適的測(cè)量范圍。根據(jù)儀器最短的鋸齒和鄰近干的鋸齒，可以計(jì)算出膜層的平均值。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格，請(qǐng)用同樣的方法重復(fù)測(cè)量至少2次，以減少誤差。測(cè)量完后，擦干儀器，放入合適的溶劑中。
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可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用于在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用于在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
Fischerscope X-RAY XDL230 X射線熒光鍍層厚度測(cè)試儀
一、儀器介紹
適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。能通過“應(yīng)用工具箱"（由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成）使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化畫中畫測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測(cè)量的距離，見背面）圖形化的用戶界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中 對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm（3.2〞）
典型的應(yīng)用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
測(cè)量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量）
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金，包括金的開數(shù)分析的特殊功能。
對(duì)電鍍?nèi)芤旱姆治瞿芰蛇_(dá)包含一或二種陽離子的電鍍液。
可通過RS-232接口或使用網(wǎng)絡(luò)環(huán)境控制命令設(shè)定數(shù)據(jù)的輸出和輸入以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的遠(yuǎn)程控制。
通過使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品選擇。
可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo)，用于快速產(chǎn)品選擇。
完整的統(tǒng)計(jì)功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估。 報(bào)告生成，數(shù)據(jù)輸出
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用
二、主要特點(diǎn)：
FISCHERSCOPE XDL 2xx是一款基于Windows? 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。XDL 2xx 的特色是獨(dú)特的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL 2xx 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
三、技術(shù)參數(shù)：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測(cè)試方法；
2.原始射線從上至下；
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.單個(gè)0.3mm直徑（12 mils）的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器，在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm（2×12 mil）帶槽視準(zhǔn)器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測(cè)量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
7.嵌入式固定的測(cè)試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測(cè)試工件。
8.從X-射線頭部（X-射線管，成比例的反射接收器及視準(zhǔn)器）至測(cè)試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設(shè)定距離（見背面）必須在定貨時(shí)明確（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定：中間位置）
9.試件查看用彩色攝像機(jī)
10.有LED狀態(tài)指示燈的測(cè)量開始/結(jié)束按鈕與測(cè)試箱集成在一體。
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| FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 2xx |
| 測(cè)量方向 | 從上往下 |
| X-射線管型號(hào)（W: 鎢管、MW: 微聚焦鎢管） | W |
| 可調(diào)節(jié)的高壓：30kV; 40kV; 50kV | 有 |
| 開槽的測(cè)量箱體 |
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| 基本Ni濾波器 | 有 |
| 接收器（Co）可選擇的WM-版本 | 有 |
| 數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | 1 |
| z-軸 | 無，或電機(jī)驅(qū)動(dòng)或可編程的 |
| 測(cè)量臺(tái)類型 | 固定臺(tái)面或手動(dòng)XY工作臺(tái)或可編程的XY工作臺(tái) |
| 測(cè)試點(diǎn)的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法（距離控制測(cè)量） | 有 |
| WinFTM® 版本 | V.6L |
| 操作系統(tǒng)：Windows XP prof. | 有 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 2xx 儀器系列目前版本：
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210 固定的測(cè)量臺(tái)面和固定的X-射線測(cè)量頭距離
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 固定的測(cè)量臺(tái)面和電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X-射線測(cè)量頭Z-軸運(yùn)行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 手動(dòng)的XY工作臺(tái)面和電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X-射線測(cè)量頭Z-軸運(yùn)行
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240 可編程的XY工作臺(tái)和可編程的X-射線測(cè)量頭Z-軸運(yùn)行